批次追溯系统 Batch Genealogy System v1.0
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【工具简介】
本工具用于半导体FAB生产环境下的批次全链路溯源管理。
通过可视化方式追踪每个批次在各个工序的设备参数、操作人员、
处理时间等关键信息，支持表格视图和树状视图，便于工程师
快速定位异常环节、满足质量追溯法规要求。

【功能特性】
1. 批次列表管理：内置4组真实模拟批次数据
2. 表格视图：按晶圆+工序二维表格展示完整流转记录
3. 树状视图：层级结构展示批次-晶圆-工序链路
4. 统计图表：各工序良率柱状图 + 设备使用分布饼图
5. 导出报告：生成.txt格式追溯报告文件

【工序覆盖】
清洗 -> 氧化扩散 -> 光刻 -> 刻蚀 -> 离子注入 ->
CVD沉积 -> PVD沉积 -> CMP研磨 -> 退火 -> 检测

【内置样例数据】
- 批次: WA2201.01 (PMIC_8inch, 25片晶圆)
- 批次: WB3302.03 (Logic_12nm, 25片晶圆)
- 批次: WC4401.02 (Memory_19nm, 25片晶圆)
- 批次: WD5502.01 (RF_SOI, 25片晶圆)
每批次含10道核心工序完整流转记录，含真实参数范围数据

【运行方式】
双击运行 批次追溯系统.py

【适用场景】
- 良率异常追溯分析
- 客诉FAB批次追踪
- ISO/SEMI标准合规审计
- 生产排程优化参考

【注意事项】
- 数据为内置模拟数据，可替换为真实MES接口数据
- 深色主题设计，适合长时间值班查看
- 建议分辨率 1280x800 以上
