﻿晶圆WaferMap缺陷可视化器
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一、工具简介
生成25x25网格模拟晶圆, 随机注入缺陷簇与边缘缺陷, 绘制彩色WaferMap
(按Bin着色或良品/不良二值两种模式), 统计良率、缺陷密度及各Bin占比,
支持调整随机种子、缺陷簇数量与边缘缺陷概率, 并可导出统计报告TXT。

二、运行环境
  - Python 3.8 及以上
  - 依赖库: numpy, matplotlib (见 requirements.txt)
  - 操作系统: Windows / Linux / macOS (需图形界面)

三、安装与运行
  1. 安装依赖:
     pip install -r requirements.txt
  2. 运行程序:
     python wafer_map_visualizer.py

四、使用说明
  - 程序启动后自动载入内置样例数据并完成一次分析绘图, 无需任何外部文件;
  - 左侧面板可调整参数(随机种子/阈值/窗口等), 点击按钮即可重新生成与分析;
  - 右侧为matplotlib交互图表, 左侧下方文本框输出完整统计分析报告;
  - 深色主题界面, 适合产线值班环境长时间使用。

五、说明
  - 内置数据由numpy随机模型生成, 分布特征参考真实FAB场景, 仅供教学演示;
  - 可将数据生成函数替换为读取自家MES/YMS导出数据, 即可用于实际分析。

版本: v1.0    日期: 2026-07-25
