Nelson八规则控制图判异器 v1.0
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半导体FAB工程师 质量控制工具

功能说明：
  对工艺参数时序数据（如薄膜厚度、刻蚀速率、温度等）自动应用
  Nelson 8条判异准则，标注所有违规点并生成判异报告。

Nelson 8条准则：
  Rule 1: 1个点超出+/-3sigma      (Zone A 以外)
  Rule 2: 连续9个点在中心线同侧
  Rule 3: 连续6个点单调递增或递减
  Rule 4: 连续14个点交替升降
  Rule 5: 连续3个点中有2个超出+/-2sigma (同侧)
  Rule 6: 连续5个点中有4个超出+/-1sigma (同侧)
  Rule 7: 连续15个点在+/-1sigma以内
  Rule 8: 连续8个点在+/-1sigma以外 (两侧均可)

使用方法：
  python main.py

操作说明：
  - 程序启动自动加载内置样例数据并绘制控制图
  - 点击 [运行全部判异] 执行8条规则分析
  - 点击 [重新生成数据] 生成新随机测试数据
  - 左侧图表标注违规点，右侧报告显示详细规则触发信息
  - 支持matplotlib工具栏（缩放、平移、保存）

依赖：
  - Python 3.8+
  - numpy
  - matplotlib

作者：半导体FAB工具集
日期：2026-07-25
