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测量系统能力 Cg / Cgk 与测量不确定度折减评估器
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Cg  = 0.2*T / (6*sigma_g)            只看重复性
Cgk = (0.10*T - |bias|) / (3*sigma_g)  同时惩罚偏倚
判定：两值都不低于 1.33 合格；不低于 1.00 有条件（受限使用）；低于 1.00 不合格
折减：sigma_true = sqrt(sigma_obs^2 - sigma_g^2)，真实均值 = 过程均值 - 偏倚

【逐量具明细】
  量具     特性                  公差T    sigma_g         偏倚     GRR%       Cg      Cgk 判定      
  G-01   轴径外径mm            0.100     0.0050     0.0015    30.0%     0.67     0.57 不合格     
  G-02   薄膜厚度nm           10.000     0.2000    -0.2000    12.0%     1.67     1.33 合格      
  G-03   接触电阻mOhm          1.000     0.0300     0.0050    18.0%     1.11     1.06 有条件     
  G-04   角度deg             1.000     0.0200     0.0000    12.0%     1.67     1.67 合格      
  G-05   产品重量g             2.000     0.0500     0.0300    15.0%     1.33     1.13 有条件     
  G-06   环境温度C             2.000     0.0350    -0.0080    10.5%     1.90     1.83 合格      

【Cpk 折减：量出来的能力有多少水分】
  量具           过程均值       真实均值    sigma_obs sigma_true      Cpk观测 Cpk真实
  G-01       10.000      9.998       0.0150     0.0141      1.111      1.143
  G-02      100.300    100.500       1.2000     1.1832      1.306      1.268
  G-03        5.000      4.995       0.1200     0.1162      1.389      1.420
  G-04       90.020     90.020       0.1000     0.0980      1.600      1.633
  G-05       50.100     50.070       0.3000     0.2958      1.000      1.048
  G-06       24.980     24.988       0.1500     0.1459      2.178      2.258

【折减幅度与主导因素】
  量具            折减量         折减比例 主导因素       说明
  G-01        0.032         2.9% 重复性        GRR 30.0% 超警戒 20%，量具自身波动吃掉了公差
  G-02       -0.038        -2.9% 偏倚         |偏倚| 0.2000 已达过程波动 10%（0.1200），系统偏差把过程中心推偏
  G-03        0.031         2.2% 均衡         重复性与偏倚都在可接受范围
  G-04        0.033         2.1% 均衡         重复性与偏倚都在可接受范围
  G-05        0.048         4.8% 偏倚         |偏倚| 0.0300 已达过程波动 10%（0.0300），系统偏差把过程中心推偏
  G-06        0.080         3.7% 均衡         重复性与偏倚都在可接受范围
  说明：折减量可为负 —— 去掉量具波动会抬高 Cpk，但偏倚若把均值推向靠近的规格限，
        两者叠加后真实 Cpk 可能反而低于观测值，这就是「越量越好看、越校越难看」。

【量具能力要求与差距】
  Cg>=1.33 要求 sigma_g <= T/39.9 ；GRR<=10% 要求 sigma_g <= T/60.0
  量具           公差T     σg要求(Cg)    σg要求(GRR)    现状sigma_g      需改善倍数 判定
  G-01       0.100       0.0025       0.0017       0.0050       3.00 需降 3.00 倍
  G-02      10.000       0.2506       0.1667       0.2000       1.20 需降 1.20 倍
  G-03       1.000       0.0251       0.0167       0.0300       1.80 需降 1.80 倍
  G-04       1.000       0.0251       0.0167       0.0200       1.20 需降 1.20 倍
  G-05       2.000       0.0501       0.0333       0.0500       1.50 需降 1.50 倍
  G-06       2.000       0.0501       0.0333       0.0350       1.05 需降 1.05 倍

【结论与行动建议】
  1) 合格 3 把：G-02、G-04、G-06
     G-02（薄膜厚度nm）：Cg=1.67 Cgk=1.33 GRR=12.0%，量具够格，该特性的 Cpk 可信
     G-04（角度deg）：Cg=1.67 Cgk=1.67 GRR=12.0%，量具够格，该特性的 Cpk 可信
     G-06（环境温度C）：Cg=1.90 Cgk=1.83 GRR=10.5%，量具够格，该特性的 Cpk 可信
  2) 有条件 2 把：G-03、G-05
     G-03（接触电阻mOhm）：Cg=1.11 Cgk=1.06 GRR=18.0%，只能用于过程监视，不得作为放行判定与 Cpk 验收依据
     G-05（产品重量g）：Cg=1.33 Cgk=1.13 GRR=15.0%，只能用于过程监视，不得作为放行判定与 Cpk 验收依据
  3) 不合格 1 把：G-01
     G-01（轴径外径mm）：Cg=0.67 Cgk=0.57 GRR=30.0% —— 先换量具，再谈 Cpk
  4) 折减方向要注意：偏倚为负（读值偏低）时真实均值更高，若过程中心偏上，真实 Cpk 会低于观测 Cpk，即「越校越差」是真实存在的。
  5) 优先顺序：先消偏倚（校准、定位方式、温度），再降重复性（换量具、加夹具、多次取平均）。
     重复性可通过「同一位置连续测 n 次取平均」降到 1/sqrt(n)，这是最便宜的改善。
  6) GRR% 超过 20% 的量具，其 Cpk 参考价值有限；客户审核时通常要求 GRR% <= 10%。
