============================================================
批次全链路追溯完整性检查报告
============================================================
必需工序链：外延 → 光刻 → 刻蚀 → 清洗 → 裂片 → PL测试 → 分选

LOT-A2601：覆盖 7/7 道工序（100%），判定 完整

LOT-A2602：覆盖 6/7 道工序（86%），判定 轻度缺失
    - 缺工序：清洗
    - 光刻.W3缺失
    - PL测试 检验记录缺失

LOT-A2603：覆盖 3/7 道工序（43%），判定 重度缺失
    - 缺工序：刻蚀、清洗、裂片、PL测试
    - 分选 时间倒挂（2026-10-24 08:10:00 → 2026-10-24 07:30:00）
    - 光刻 配方/路线版本缺失
    - 分选 检验记录缺失

-- 汇总 --
批次总数 3，链路完整 1，存在缺失 2
缺失项最多的批次：LOT-A2603、LOT-A2602

-- 管控建议 --
1. 追溯断链大头是早期工序数据未采集，外延/光刻工位联机优先补齐。
2. W2<W1、W4<W3 这类时间倒挂必须走时间修正审批单，禁止直接改库。
3. PL测试 MAP 文件是晶粒级追溯的根，解析失败当天补传。
4. 出货前按本检查预扫一遍，别等客户审厂现场才发现链路不全。