失效分析FA系统：从投诉到根因闭环管理
[公开] 失效分析FA系统：从投诉到根因闭环管理 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺...
FAB工程师的甲方思维：如何做好供应商管理
[公开] FAB工程师的甲方思维：如何做好供应商管理 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的职场科普类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab...
[公开] 数据可视化避坑：别再用双Y轴误导人
![[公开] 数据可视化避坑：别再用双Y轴误导人](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003014178655221442474.png)
[公开] 数据可视化避坑：别再用双Y轴误导人 【摘要】双Y轴图是工程报表里最危险的图表类型，因为两条轴的缩放可以任意调整，任何两组数据都能被画成「高度相关」。本文从视觉编码原理讲清双Y轴、截断坐标轴、...
Python自动生成PPAP文件：格式与内容要点
[公开] Python自动生成PPAP文件：格式与内容要点 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的数据工具类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合...
[公开] 设备腔体匹配(Chamber Matching)：多腔一致性
![[公开] 设备腔体匹配(Chamber Matching)：多腔一致性](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003017178655221748476.png)
[公开] 设备腔体匹配(Chamber Matching)：多腔一致性 【摘要】多腔设备的一致性直接决定了批间波动的下限，但很多工厂做腔体匹配只比厚度均值，既没有排除量测误差，也没有区分均值偏移与变异...
方差分析ANOVA：在FAB工艺比较中的应用
[公开] 方差分析ANOVA：在FAB工艺比较中的应用 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC过程控制类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适...
[公开] 良率与设备指纹：哪台机台是隐形杀手
![[公开] 良率与设备指纹：哪台机台是隐形杀手](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003019178655221934701.png)
[公开] 良率与设备指纹：哪台机台是隐形杀手 【摘要】良率掉了一个多百分点，SPC却一片绿，问题往往藏在某台机台的某个腔体里。本文讲清共性分析（Commonality Analysis）的统计原理、混...
MES数据可视化：用ECharts打造车间看板
[公开] MES数据可视化：用ECharts打造车间看板 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的MES自动化类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适...
Agent工作流：FAB异常自动处理全链路设计
[公开] Agent工作流：FAB异常自动处理全链路设计 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的半导体AI融合类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章...
[公开] SECS-GEM新手入门：搞懂这5点少走3个月弯路
![[公开] SECS-GEM新手入门：搞懂这5点少走3个月弯路](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003022178655222237496.png)
[公开] SECS-GEM新手入门：搞懂这5点少走3个月弯路 【摘要】SECS-GEM的文档动辄上千页，新人往往在建链、事件订阅、数据格式这些地方反复卡壳。本文把真正需要先搞懂的五件事讲透：协议栈分层...