AI正在"入侵"FAB：我用机器学习把膜厚良率预测准确率做到了93%
AI正在"入侵"FAB：我用机器学习把膜厚良率预测准确率做到了93% 发布时间：2026-07-03 | 分类：半导体百科 | 阅读需要：10分钟 ────────────────...
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AI辅助SPC：异常自动诊断与根因分析（工程师实战版）
AI辅助SPC：异常自动诊断与根因分析（工程师实战版） 大家好，我是老张。SPC（统计过程控制）是FAB质量管理的基石，但传统SPC有个痛点：只能“报警”，不能“诊断”。比如控制图发出异常信号，工程师...
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AI晶圆良率预测：XGBoost从数据到部署（工程师实战版） 大家好，我是老张。在半导体FAB做良率工程师5年，前3年靠经验“拍脑袋”预测良率，准确率只有65%左右。去年开始用AI（XGBoost）做...
AI+数据采集：智能预警与预测性维护（工程师实战版）
AI+数据采集：智能预警与预测性维护（工程师实战版） 大家好，我是老张。FAB的数据采集过去主要是“存下来，等人查”，属于被动模式。去年我们做了AI+数据采集系统，实现“主动预警、预测性维护”，设备非...