数据可视化避坑:别再用双Y轴误导人

叶志辉5天前0
数据可视化避坑:别再用双Y轴误导人
[公开] 数据可视化避坑:别再用双Y轴误导人 【摘要】双Y轴图是工程报表里最危险的图表类型,因为两条轴的缩放可以任意调整,任何两组数据都能被画成「高度相关」。本文从视觉编码原理讲清双Y轴、截断坐标轴、...

设备腔体匹配(Chamber Matching):多腔一致性

叶志辉5天前0
设备腔体匹配(Chamber Matching):多腔一致性
[公开] 设备腔体匹配(Chamber Matching):多腔一致性 【摘要】多腔设备的一致性直接决定了批间波动的下限,但很多工厂做腔体匹配只比厚度均值,既没有排除量测误差,也没有区分均值偏移与变异...

良率与设备指纹:哪台机台是隐形杀手

叶志辉5天前0
良率与设备指纹:哪台机台是隐形杀手
[公开] 良率与设备指纹:哪台机台是隐形杀手 【摘要】良率掉了一个多百分点,SPC却一片绿,问题往往藏在某台机台的某个腔体里。本文讲清共性分析(Commonality Analysis)的统计原理、混...

SECS-GEM新手入门:搞懂这5点少走3个月弯路

叶志辉5天前0
SECS-GEM新手入门:搞懂这5点少走3个月弯路
[公开] SECS-GEM新手入门:搞懂这5点少走3个月弯路 【摘要】SECS-GEM的文档动辄上千页,新人往往在建链、事件订阅、数据格式这些地方反复卡壳。本文把真正需要先搞懂的五件事讲透:协议栈分层...

良率爬坡的统计陷阱:小样本的过度解读

叶志辉5天前0
良率爬坡的统计陷阱:小样本的过度解读
[公开] 良率爬坡的统计陷阱:小样本的过度解读 【摘要】新工艺爬坡期,三片wafer良率九成二,团队庆祝,结果后面二十片掉到八成五——这种"过山车"在Fab里每天都在上演。问题的根...

从MES到智能制造:数据驱动决策的进阶

叶志辉5天前0
从MES到智能制造:数据驱动决策的进阶
[公开] 从MES到智能制造:数据驱动决策的进阶 【摘要】MES上线三五年,数据攒了一堆,但排产靠经验、改善靠开会、决策靠拍板——这是绝大多数工厂的真实状态。本文用智能制造分层架构拆解从MES到数据驱...

分布对比箱线图:快速定位哪台设备是离群者

叶志辉5天前0
分布对比箱线图:快速定位哪台设备是离群者
[公开] 分布对比箱线图:快速定位哪台设备是离群者 【摘要】四台设备均值差不多,但产品一致性差异很大,用均值对比根本看不出问题在哪。本文从箱线图的原理讲起,演示如何用一张箱线图同时对比多台设备的分布特...

用Whisper转写产线交接班录音:自动生成异常台账

叶志辉5天前0
用Whisper转写产线交接班录音:自动生成异常台账
[公开] 用Whisper转写产线交接班录音:自动生成异常台账 【摘要】交接班的口头信息是产线最宝贵也最容易丢失的资产:夜班发生了什么异常、怎么处置的、还有哪些遗留问题,全凭一张嘴和一本手写本。本文分...

半导体人才缺口:产业扩张下的用工现实

叶志辉5天前0
半导体人才缺口:产业扩张下的用工现实
[公开] 半导体人才缺口:产业扩张下的用工现实 【摘要】新Fab一座接一座投产,工艺工程师、设备工程师的招聘却越来越难。本文用数据和一线观察拆解半导体人才缺口的真实结构:缺口集中在哪些岗位、为什么培养...

半导体专利怎么写:工程师的加分项

叶志辉5天前0
半导体专利怎么写:工程师的加分项
[公开] 半导体专利怎么写:工程师的加分项 【摘要】晋升答辩时,别人都有专利你没有,短板立刻显现。但很多工程师觉得专利高不可攀:创新点不够大、不会写交底书、怕泄密、怕被驳回。本文从专利的三性讲起,给出...