用Python做设备OEE分析：完整代码示例
[公开] 用Python做设备OEE分析：完整代码示例 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的数据工具类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fa...
短期SPC与长期Sigma切换：标准做法与误区
[公开] 短期SPC与长期Sigma切换：标准做法与误区 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC过程控制类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章...
Recipe管理模块：工艺参数版本控制实战
[公开] Recipe管理模块：工艺参数版本控制实战 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的MES自动化类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合F...
AI辅助CP测试优化：测试时间压缩30%案例
[公开] AI辅助CP测试优化：测试时间压缩30%案例 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的半导体AI融合类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适...
真空系统维护：泵组保养与真空度异常排查
[公开] 真空系统维护：泵组保养与真空度异常排查 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的设备工艺类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺...
EES工程控制系统：OEE数据采集与计算逻辑
[公开] EES工程控制系统：OEE数据采集与计算逻辑 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fa...
FAB工程师转IC设计：技能迁移避坑指南
[公开] FAB工程师转IC设计：技能迁移避坑指南 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的职场科普类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工...
SPC与质量体系整合：IATF16949落地实践
[公开] SPC与质量体系整合：IATF16949落地实践 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC过程控制类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文...
MES权限体系设计：基于角色的访问控制RBAC
[公开] MES权限体系设计：基于角色的访问控制RBAC 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的MES自动化类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适...
FAB配方优化：贝叶斯优化实战调参案例
[公开] FAB配方优化：贝叶斯优化实战调参案例 【摘要】本文以「半导体AI融合」为切入点，从行业演进趋势、技术基因差异、真实工程痛点、前沿解法四个层次展开，结合笔者在12寸Fab的一线实战数据，给出...