[粉丝专享] 缺陷聚类分析：无监督方法定位工艺问题
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[粉丝专享] 缺陷聚类分析：无监督方法定位工艺问题 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工...
良率提升项目管理：从立项到收尾的方法论
[公开] 良率提升项目管理：从立项到收尾的方法论 【摘要】良率提升项目失败的原因往往不是技术不行，而是项目管理失控：目标模糊、基线不准、实验设计随意、结论无法固化。本文给出一套完整的六阶段项目管理方法...
向量数据库存储工艺文档：语义搜索比关键词快10倍
向量数据库存储工艺文档：语义搜索比关键词快10倍 用向量数据库（Milvus/FAISS）存储SOP/Recipe/异常处理文档，实现FAB知识语义检索 一、背景故事：为什么半导体工艺文档检索成了痛点...
用扩散模型做缺陷数据增强：小样本良率建模救星
[粉丝专享] 用扩散模型做缺陷数据增强：小样本良率建模救星 【摘要】缺陷分类模型在Fab落地最大的障碍是稀有缺陷样本极少。本文完整记录用扩散模型为晶圆缺陷图做数据增强的工程实践，包含训练超参、生成质量...
工程师的时间管理：救火与规划的平衡
[粉丝专享] 工程师的时间管理：救火与规划的平衡 【摘要】本文用一个薄膜工艺组连续12周的真实改造记录，拆解Fab工程师"整天救火、没时间规划"的结构性成因，给出异常分级响应矩阵、...
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[公开] FAB数据脱敏：公开分享数据的安全底线 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的数据工具类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺...
薄膜沉积速率监控：SPC纳入的实战
[公开] 薄膜沉积速率监控：SPC纳入的实战 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的设备工艺类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺工程...
缺陷密度地图：跨批次叠加找出固定位置缺陷
[公开] 缺陷密度地图：跨批次叠加找出固定位置缺陷 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工...
半导体外包vs正编：待遇差距与转正路
[粉丝专享] 半导体外包vs正编：待遇差距与转正路 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的职场科普类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工...
缺陷密度关联分析：相关不等于因果的实证
[粉丝专享] 缺陷密度关联分析：相关不等于因果的实证 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的数据工具类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab...