良率与设备指纹:哪台机台是隐形杀手

叶志辉5天前3
良率与设备指纹:哪台机台是隐形杀手
[公开] 良率与设备指纹:哪台机台是隐形杀手 【摘要】良率掉了一个多百分点,SPC却一片绿,问题往往藏在某台机台的某个腔体里。本文讲清共性分析(Commonality Analysis)的统计原理、混...

SECS-GEM新手入门:搞懂这5点少走3个月弯路

叶志辉5天前1
SECS-GEM新手入门:搞懂这5点少走3个月弯路
[公开] SECS-GEM新手入门:搞懂这5点少走3个月弯路 【摘要】SECS-GEM的文档动辄上千页,新人往往在建链、事件订阅、数据格式这些地方反复卡壳。本文把真正需要先搞懂的五件事讲透:协议栈分层...

FAB智能化的下一站:从自动化到自主决策

叶志辉5天前2
FAB智能化的下一站:从自动化到自主决策
[粉丝专享] FAB智能化的下一站:从自动化到自主决策 【摘要】大多数Fab已经完成了「自动化」,但离「自主决策」还差着关键的一层。本文给出Fab自治能力的五级模型、感知到执行的决策闭环拆解、当前行业...

半导体猎头怎么用:跳槽涨薪的杠杆

叶志辉5天前1
半导体猎头怎么用:跳槽涨薪的杠杆
[粉丝专享] 半导体猎头怎么用:跳槽涨薪的杠杆 【摘要】很多工程师把猎头当成发简历的中介,结果既没拿到好机会,也把自己的候选人身份提前锁死。本文拆解猎头行业的佣金与报备机制、半导体岗位的职级与薪酬包结...

[公开] 缺陷密度地图叠:找出系统性的弱点区域

叶志辉5天前1
[公开] 缺陷密度地图叠:找出系统性的弱点区域
[公开] 缺陷密度地图叠:找出系统性的弱点区域 分类:良率工程 | 发布:2026-08-11 8号槽位 一、痛点:缺陷数量我知道,但缺陷"长在哪里"才是关键 Fab缺陷分析最常...

[公开] 良率baseline管理:别被综合良率数字骗了

叶志辉5天前1
[公开] 良率baseline管理:别被综合良率数字骗了
[公开] 良率baseline管理:别被综合良率数字骗了 分类:良率工程 | 发布:2026-08-11 6号槽位 一、痛点:Fab的良率数字看起来很好看,实际上在悄悄下降 Fab的良率管理有一个经...

[公开] ChatGPT辅助Recipe开发:从试错到精准调参

叶志辉5天前4
[公开] ChatGPT辅助Recipe开发:从试错到精准调参
[公开] ChatGPT辅助Recipe开发:从试错到精准调参 分类:半导体AI融合 | 发布:2026-08-11 5号槽位 一、痛点:Recipe工程师80%的时间在"试",...

[公开] Python处理SECS消息:解析二进制的技巧

叶志辉5天前4
[公开] Python处理SECS消息:解析二进制的技巧
[公开] Python处理SECS消息:解析二进制的技巧 【摘要】SECS-II是嵌套的二进制格式,一条S6F11报文可能有上千个数据项。用错解析方式,一台设备的日志就能把CPU吃满。本文从HSMS报...

跳槽到原厂还是FAB:面试10家的5条规律

叶志辉5天前3
跳槽到原厂还是FAB:面试10家的5条规律
跳槽到原厂还是FAB:面试10家的5条规律 半导体行业工程师跳槽决策指南,含原厂(ASML/LAM/AMAT/KLA)与FAB的工作体验对比 FAB干了三年,原厂给了offer,薪资翻倍——但听说原厂...

[公开] 外延生长(Epi)工艺:缺陷密度的控制要点

叶志辉5天前3
[公开] 外延生长(Epi)工艺:缺陷密度的控制要点
[公开] 外延生长(Epi)工艺:缺陷密度的控制要点 【摘要】外延层是器件的地基,地基上的一个层错就可能毁掉一颗芯片。本文系统拆解Epi工艺的六类典型缺陷及其物理成因,给出预清洗、氢气烘烤、基座管理、...