WAT测试数据解读：良率拐点与参数关联
[公开] WAT测试数据解读：良率拐点与参数关联 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺...
FAB工程师谈副业：哪些方向真正可行
[公开] FAB工程师谈副业：哪些方向真正可行 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的职场科普类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺工...
[公开] 工程师转管理：技术骨干的能力断层
![[公开] 工程师转管理：技术骨干的能力断层](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003143178655230370026.png)
[公开] 工程师转管理：技术骨干的能力断层 【摘要】技术大牛升了主管，团队却越带越乱：凡事亲力亲为、不会授权、不敢决策、沟通全靠技术语言。本文从"救火队长"老王的困境讲起，对比技术...
用Python做设备OEE分析：完整代码示例
[公开] 用Python做设备OEE分析：完整代码示例 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的数据工具类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fa...
[公开] Python自动化报表：从模板到邮件推送
![[公开] Python自动化报表：从模板到邮件推送](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003145178655230553655.png)
[公开] Python自动化报表：从模板到邮件推送 【摘要】每周一上午三小时的手工良率周报，数据对不齐、格式不统一、邮件发漏人——这是无数Fab的日常。本文从一次报表事故讲起，给出Python报表自动...
短期SPC与长期Sigma切换：标准做法与误区
[公开] 短期SPC与长期Sigma切换：标准做法与误区 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC过程控制类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章...
Recipe管理模块：工艺参数版本控制实战
[公开] Recipe管理模块：工艺参数版本控制实战 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的MES自动化类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合F...
AI辅助CP测试优化：测试时间压缩30%案例
[公开] AI辅助CP测试优化：测试时间压缩30%案例 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的半导体AI融合类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适...
[公开] 离子注入沟道效应：倾角设置的讲究
![[公开] 离子注入沟道效应：倾角设置的讲究](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003149178655230983118.png)
[公开] 离子注入沟道效应：倾角设置的讲究 【摘要】离子注入的倾角设0度还是7度，不是拍脑袋的事。本文从一次阈值电压漂移的深夜排查讲起，解释沟道效应的物理机理，分析倾角、旋转与晶向的关系，给出倾角选择...
[公开] 参数良率vs功能良率：WAT和CP的分工
![[公开] 参数良率vs功能良率：WAT和CP的分工](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003152178655231227230.png)
[公开] 参数良率vs功能良率：WAT和CP的分工 【摘要】WAT参数全绿，CP良率却掉了8个点，这种"参数良率与功能良率脱节"的现象困扰着很多良率工程师。本文讲清WAT和CP的定...