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半导体 Fab 数字化实战 | 工业软件架构优化 | 人工智能底层与 AGI 思辨
人工缺陷分类每天300片看花眼:我用CNN实现了自动分类
叶志辉
2个月前
(08-11)
93
【摘要】 本文系统梳理缺陷检测与分析领域的核心问题与落地路径。【摘要】缺陷分类原来靠人工看显微镜,每天300片晶圆,检验员眼睛都看花了,错误率高达8%。全文围绕「痛点:检验员看缺陷看到怀疑人生、技术...
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CNN晶圆缺陷模式识别:从AOI目检到AI智能检测
叶志辉
2个月前
(08-11)
109
本文系统梳理缺陷检测与分析领域的核心问题与落地路径。全文围绕「问题背景:人工目检的效率瓶颈与质量风险、技术原理:缺陷分类体系与CNN架构选型、实战案例:迁移学习 ResNet50 识别晶圆缺陷 Map...
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