[公开] SPC与SPC-Lite：轻量化监控的取舍
![[公开] SPC与SPC-Lite：轻量化监控的取舍](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813002718178655203850038.png)
[公开] SPC与SPC-Lite：轻量化监控的取舍 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC过程控制类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合...
[公开] MES与WMS协同：物料齐套率的提升实践
![[公开] MES与WMS协同：物料齐套率的提升实践](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813002720178655204092201.png)
[公开] MES与WMS协同：物料齐套率的提升实践 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的MES自动化类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fa...
[公开] FAB数字孪生+AI：虚拟量测(VM)如何减少实测
![[公开] FAB数字孪生+AI：虚拟量测(VM)如何减少实测](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813002722178655204255283.png)
[公开] FAB数字孪生+AI：虚拟量测(VM)如何减少实测 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的半导体AI融合类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。...
[粉丝专享] 缺陷源追溯：从WaferMap反推到具体工序
![[粉丝专享] 缺陷源追溯：从WaferMap反推到具体工序](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813002724178655204459550.png)
[粉丝专享] 缺陷源追溯：从WaferMap反推到具体工序 【摘要】WaferMap上出现一片异常图形，怎么在几百道工序里锁定源头？本文给出一套可执行的追溯方法：先做图形分类，再用共性分析在设备维度做...
[粉丝专享] 设备产能仿真：上线前如何预估节拍瓶颈
![[粉丝专享] 设备产能仿真：上线前如何预估节拍瓶颈](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813002726178655204696984.png)
[粉丝专享] 设备产能仿真：上线前如何预估节拍瓶颈 【摘要】新产线还没建好，产能承诺已经报上去了，凭什么？本文用离散事件仿真的思路，把设备节拍、搬运时间、批次规则、故障分布和缓冲区容量组合成一个可计算...
[粉丝专享] SPC误区之抽样频率：测得越多不等于控得越好
![[粉丝专享] SPC误区之抽样频率：测得越多不等于控得越好](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813002727178655204736991.png)
[粉丝专享] SPC误区之抽样频率：测得越多不等于控得越好 【摘要】很多工厂在质量出问题后的第一反应是"加大抽样"，结果量测机台被塞爆、控制图上假报警满天飞、真正的漂移反而被淹没。...
[粉丝专享] 让模型解析设备Log：正则写到吐不如交给LLM
![[粉丝专享] 让模型解析设备Log：正则写到吐不如交给LLM](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813002730178655205096396.png)
[粉丝专享] 让模型解析设备Log：正则写到吐不如交给LLM 【摘要】半导体Fab里每台设备每天吐出几十万行Log，格式各不相同、版本还在变。用正则表达式硬扛，规则库会膨胀到无人敢动；本文讲清楚如何用...
[公开] FAB技术文档的价值：被低估的软实力
![[公开] FAB技术文档的价值：被低估的软实力](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813002732178655205223019.png)
[公开] FAB技术文档的价值：被低估的软实力 【摘要】在Fab里，写文档常被当成不出活的表现。但真正拉开工程师差距的，往往不是谁解过更难的问题，而是谁的解法能被别人复用。本文用实际数据说明文档缺失的...
[公开] FAB KPI体系：从数据到指标的映射
![[公开] FAB KPI体系：从数据到指标的映射](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813002735178655205521187.png)
[公开] FAB KPI体系：从数据到指标的映射 【摘要】同一个OEE，制造部算出来85%，设备部算出来72%，报表系统显示78%。指标打架的根源不是算法不同，而是从原始数据到指标之间的映射链路从来没...
[公开] 薄膜均匀性分析器：49点数据的解读
![[公开] 薄膜均匀性分析器：49点数据的解读](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813002738178655205869315.png)
[公开] 薄膜均匀性分析器：49点数据的解读 【摘要】49点厚度数据每天都在测，但绝大多数工程师只看一个均匀性百分比就翻页了。本文把49点数据拆成均值、径向分量、方位角分量、边缘分量和随机残差五个部分...