[公开] 数据质量治理：给FAB数据打分的方法
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[公开] 数据质量治理：给FAB数据打分的方法 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的数据工具类问题，从背景故事、技术原理、现状分析、瓶颈问题、解决方案、实战案例到实施效果，给出可直接落地复用的完整...
用Python做正态性检验：完整的判定流程
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SPC与SPC-Lite：轻量化监控的取舍
[公开] SPC与SPC-Lite：轻量化监控的取舍 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC过程控制类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合...
[公开] CMP终点检测：过研磨与欠研磨的判定
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[公开] CMP终点检测：过研磨与欠研磨的判定 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的设备工艺类问题，从背景故事、技术原理、现状分析、瓶颈问题、解决方案、实战案例到实施效果，给出可直接落地复用的完整...
MES与WMS协同：物料齐套率的提升实践
[公开] MES与WMS协同：物料齐套率的提升实践 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的MES自动化类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fa...
[公开] 良率会议怎么开：数据+行动项的高效模式
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[公开] 良率会议怎么开：数据+行动项的高效模式 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从背景故事、技术原理、现状分析、瓶颈问题、解决方案、实战案例到实施效果，给出可直接落地复用的完...
FAB数字孪生+AI：虚拟量测(VM)如何减少实测
[公开] FAB数字孪生+AI：虚拟量测(VM)如何减少实测 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的半导体AI融合类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。...
缺陷源追溯：从WaferMap反推到具体工序
[粉丝专享] 缺陷源追溯：从WaferMap反推到具体工序 【摘要】WaferMap上出现一片异常图形，怎么在几百道工序里锁定源头？本文给出一套可执行的追溯方法：先做图形分类，再用共性分析在设备维度做...
[公开] 设备OEE自动计算：从手工Excel到实时看板
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[公开] 设备OEE自动计算：从手工Excel到实时看板 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的MES自动化类问题，从背景故事、技术原理、现状分析、瓶颈问题、解决方案、实战案例到实施效果，给出可直接...
设备产能仿真：上线前如何预估节拍瓶颈
[粉丝专享] 设备产能仿真：上线前如何预估节拍瓶颈 【摘要】新产线还没建好，产能承诺已经报上去了，凭什么？本文用离散事件仿真的思路，把设备节拍、搬运时间、批次规则、故障分布和缓冲区容量组合成一个可计算...