半导体产能负荷分析：瓶颈识别与产能爬坡
[粉丝专享] 半导体产能负荷分析：瓶颈识别与产能爬坡 【摘要】本文讲清晶圆厂产能负荷模型怎么建、瓶颈工序怎么识别、爬坡期产能怎么预测。从可用工时口径、qual矩阵、排队论出发，给出基于MES数据的日滚...
[公开] 半导体碳中和：绿色制造的工程师视角
![[公开] 半导体碳中和：绿色制造的工程师视角](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003326178655240667375.png)
[公开] 半导体碳中和：绿色制造的工程师视角 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的前沿趋势类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺工程...
用Python实现Nelson规则：完整可复用的判异模块
[公开] 用Python实现Nelson规则：完整可复用的判异模块 【摘要】本文针对半导体Fab中SPC控制图判读依赖人工、标准不一、漏判误判频发的问题，用Python实现一套完整可复用的Nelso...
[公开] 半导体行业周期：寒冬里工程师怎么自处
![[公开] 半导体行业周期：寒冬里工程师怎么自处](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003328178655240827802.png)
[公开] 半导体行业周期：寒冬里工程师怎么自处 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的职场科普类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺工...
GPT做根因分析(RCA)：结构化5Why的自动化尝试
[公开] GPT做根因分析(RCA)：结构化5Why的自动化尝试 【摘要】本文分享我们团队用GPT辅助做根因分析（RCA）的一次完整实践。核心思路是把丰田的5Why方法结构化成可执行的框架，再借助大...
缺陷图像处理：OpenCV提取缺陷特征
缺陷图像处理：OpenCV提取缺陷特征 用OpenCV对缺陷SEM/光学图像做预处理、分割、特征提取（面积/圆度/方向），构建缺陷特征库 ───────────────────────────────...
FAB晋升通道：从工程师到资深的关键跳跃
[公开] FAB晋升通道：从工程师到资深的关键跳跃 【摘要】本文面向在半导体Fab里工作3到8年、卡在"工程师"职级上不去的从业者，拆解FAB真实的晋升通道结构，指出从工程师到资深...
光刻焦距窗口（DOF）：工艺窗口的多因子分析
光刻焦距窗口（DOF）：工艺窗口的多因子分析 光刻焦深（DOF）与NA/波长/光刻胶厚度的关系，焦距窗口的DOE优化与良率影响 ────────────────────────────────────...
Python实现帕累托分析：80/20法则落地
[公开] Python实现帕累托分析：80/20法则落地 【摘要】帕累托分析人人会画，但在Fab里做出能指导决策的帕累托图并不容易：口径不统一、权重选错、分层缺失，都会把改善资源引向错误方向。本文给出...
[粉丝专享] MES数据采集的完整性：为什么你的报表总对不上
![[粉丝专享] MES数据采集的完整性：为什么你的报表总对不上](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003336178655241635000.png)
[粉丝专享] MES数据采集的完整性：为什么你的报表总对不上 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的MES/CIM系统落地类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实...