Bin Map分析:哪一类失效在偷走你的良率

叶志辉5天前3
Bin Map分析:哪一类失效在偷走你的良率
Bin Map分析:哪一类失效在偷走你的良率 Wafer Bin Map视觉分析、失效模式识别与良率损失根因定位实战 整体良率88%,但某区域总是低2个点——Bin Map一眼就看出来,但怎么用它找到...

半导体批次追溯系统:从晶圆到芯片的全链路

叶志辉5天前3
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半导体批次追溯系统:从晶圆到芯片的全链路 Lot Traceability实战架构,含SECS-GEM对接、良率追溯与召回管理 一批晶圆有良率异常,要查是哪个机台、哪个时间点、哪个操作导致的——查不出...

刻蚀速率均匀性:片内不均的5个成因与对策

叶志辉5天前3
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刻蚀速率均匀性:片内不均的5个成因与对策 2026-07-29 发布 | 设备工艺 刻蚀均匀性决定每颗芯片是否刻得一样深,差一点整批电性就散、良率就掉。速率不达标能靠时间补,均匀性差是谁也补不回来的结...

CUSUM累积和图实战:抓住X-bar抓不到的缓慢漂移

叶志辉5天前5
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CUSUM累积和图实战:抓住X-bar抓不到的缓慢漂移 累积和控制图原理、参数设定与Fab生产监控实战案例 0. 背景故事 某12英寸Fab的扩散工艺工程师张工最近很苦恼:负责的氧化炉(Oxidati...

WaferMap缺陷模式识别:环状/边缘/中心各说明什么

叶志辉5天前3
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WaferMap缺陷模式识别:环状/边缘/中心各说明什么 2026-07-29 发布 | 良率工程 晶圆缺陷图是良率工程师的眼睛,每种空间模式背后都对应一类物理成因。环状想边缘效应,中心想腔体气路,条...

用Embedding给缺陷图分类:无需标注也能聚类良率杀手

叶志辉5天前3
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用Embedding给缺陷图分类:无需标注也能聚类良率杀手 向量嵌入 + 余弦相似度实战,无需人工打标从WaferMap图中自动发现异常模式 0. 背景故事 某8英寸Fab的缺陷工程师李工最近遇到一个...

EAP设备自动化:SECS-GEM对接的完整实施路径

叶志辉5天前3
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EAP设备自动化:SECS-GEM对接的完整实施路径 2026-07-29 发布 | MES自动化 设备自动化是把机台和制造执行系统连起来的关键软件:自动下发配方、采集参数、上报状态。没有它,操作员得...

背面供电(BSPDN):新工艺带来的检测挑战

叶志辉5天前2
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背面供电(BSPDN):新工艺带来的检测挑战 背面供电网络的技术原理、与传统工艺的差异,以及对缺陷检测的新挑战 把供电网络搬到芯片背面,听起来简单——但FAB为此付出的代价超乎想象 一、背景故事:摩尔...

从砂子到芯片:FAB这28天到底发生了什么

叶志辉5天前3
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从砂子到芯片:FAB这28天到底发生了什么 芯片制造全流程科普,从硅片进入FAB到封装测试的完整旅程 拆开一颗芯片,里面有几十亿个晶体管——它们从一粒砂子到成品的28天经历了什么 一、背景故事:一粒砂...

用Python自动生成良率日报:省下每天2小时

叶志辉5天前3
用Python自动生成良率日报:省下每天2小时
用Python自动生成良率日报:省下每天2小时 pandas+matplotlib自动化良率日报pipeline,从数据到PPT级别的完整代码 【开篇】每天花2小时整理良率数据做日报,一周就是10小时...