[粉丝专享] AI预测设备故障:LSTM对振动信号的实战建模

叶志辉5天前1
[粉丝专享] AI预测设备故障:LSTM对振动信号的实战建模
[粉丝专享] AI预测设备故障:LSTM对振动信号的实战建模 【摘要】设备故障是Fab良率和产能的头号杀手,而振动信号里藏着故障的早期征兆。本文从一次CMP批量划伤事故讲起,介绍LSTM网络处理时间序...

Inline量测数据接入:从设备到报表的全链路

叶志辉5天前1
Inline量测数据接入:从设备到报表的全链路
[粉丝专享] Inline量测数据接入:从设备到报表的全链路 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题,从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验,给出可直接落地复用的实战方案。文章适...

[粉丝专享] 半导体供应链重构:地缘政治下的产能布局

叶志辉5天前1
[粉丝专享] 半导体供应链重构:地缘政治下的产能布局
[粉丝专享] 半导体供应链重构:地缘政治下的产能布局 【摘要】从出口管制到区域化建厂,地缘政治正在重塑全球半导体产能版图。本文梳理半导体供应链的七个环节与地理分布,分析2026年产能布局的三大趋势,拆...

多变量SPC控制图:相关变量联合监控实战

叶志辉5天前1
多变量SPC控制图:相关变量联合监控实战
[粉丝专享] 多变量SPC控制图:相关变量联合监控实战 【摘要】本文以「SPC过程控制」为切入点,从行业演进趋势、技术基因差异、真实工程痛点、前沿解法四个层次展开,结合笔者在12寸Fab的一线实战数据...

FAB设备数据接口选型:SECS还是OPC-UA

叶志辉5天前1
FAB设备数据接口选型:SECS还是OPC-UA
[粉丝专享] FAB设备数据接口选型:SECS还是OPC-UA 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的MES自动化类问题,从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验,给出可直接落地复用的实战方案。...

[粉丝专享] 半导体应届生offer怎么挑:大厂还是Fab

叶志辉5天前1
[粉丝专享] 半导体应届生offer怎么挑:大厂还是Fab
[粉丝专享] 半导体应届生offer怎么挑:大厂还是Fab 【摘要】每年春招,半导体专业的应届生都在"芯片大厂还是晶圆厂Fab"之间反复纠结。本文从商业模式、技术成长、行业周期三个...

[公开] 数据质量治理:给FAB数据打分的方法

叶志辉5天前1
[公开] 数据质量治理:给FAB数据打分的方法
[公开] 数据质量治理:给FAB数据打分的方法 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的数据工具类问题,从背景故事、技术原理、现状分析、瓶颈问题、解决方案、实战案例到实施效果,给出可直接落地复用的完整...

缺陷源追溯:从WaferMap反推到具体工序

叶志辉5天前1
缺陷源追溯:从WaferMap反推到具体工序
[粉丝专享] 缺陷源追溯:从WaferMap反推到具体工序 【摘要】WaferMap上出现一片异常图形,怎么在几百道工序里锁定源头?本文给出一套可执行的追溯方法:先做图形分类,再用共性分析在设备维度做...

设备产能仿真:上线前如何预估节拍瓶颈

叶志辉5天前1
设备产能仿真:上线前如何预估节拍瓶颈
[粉丝专享] 设备产能仿真:上线前如何预估节拍瓶颈 【摘要】新产线还没建好,产能承诺已经报上去了,凭什么?本文用离散事件仿真的思路,把设备节拍、搬运时间、批次规则、故障分布和缓冲区容量组合成一个可计算...

SPC误区之抽样频率:测得越多不等于控得越好

叶志辉5天前1
SPC误区之抽样频率:测得越多不等于控得越好
[粉丝专享] SPC误区之抽样频率:测得越多不等于控得越好 【摘要】很多工厂在质量出问题后的第一反应是"加大抽样",结果量测机台被塞爆、控制图上假报警满天飞、真正的漂移反而被淹没。...