SPC在薄膜厚度监控中的应用：均匀性怎么纳入
[粉丝专享] SPC在薄膜厚度监控中的应用：均匀性怎么纳入 【摘要】薄膜厚度是半导体前道制造中监控最密集的工艺参数之一，但很多Fab的SPC体系只盯着每片晶圆的平均厚度，把片内均匀性晾在一边，结果均...
[粉丝专享] run-to-run反馈的落地实践
![[粉丝专享] run-to-run反馈的落地实践](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003304178655238451713.png)
[粉丝专享] run-to-run反馈的落地实践 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的MES/CIM系统落地类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章...
过程能力研究报告：一份能过审的模板长什么样
[粉丝专享] 过程能力研究报告：一份能过审的模板长什么样 【摘要】本文系统介绍半导体Fab场景下过程能力研究（Cpk分析）的完整方法论，从数据采集、分布检验、能力指标计算到报告撰写规范，给出一套可直接...
[粉丝专享] FAB数据ETL：从采集到入仓的完整管道
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[粉丝专享] FAB数据ETL：从采集到入仓的完整管道 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的数据工具类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fa...
工程师副业的边界：竞业限制与合规红线到底在哪里
[粉丝专享] 工程师副业的边界：竞业限制与合规红线到底在哪里 【摘要】本文系统梳理半导体与制造业工程师做副业时的四层法律约束：保密义务、竞业限制、职务发明与用工冲突。给出可执行的内容脱敏五要素法、十条...
用Plotly做交互式良率图：从静态截图到钻取分析的完整落地
[粉丝专享] 用Plotly做交互式良率图：从静态截图到钻取分析的完整落地 【摘要】本文讲清如何用Plotly与Dash把良率分析从静态PNG升级为可钻取的交互看板。覆盖lot到die四层数据模型设计...
[粉丝专享] 薄膜应力控制：晶圆翘曲的成因与缓解
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[粉丝专享] 薄膜应力控制：晶圆翘曲的成因与缓解 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的设备工艺类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺...
[粉丝专享] 良率数据的陷阱：抽样测试掩盖的真相
![[粉丝专享] 良率数据的陷阱：抽样测试掩盖的真相](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003314178655239428178.png)
[粉丝专享] 良率数据的陷阱：抽样测试掩盖的真相 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺...
时序异常检测：滑动窗口与统计阈值
[粉丝专享] 时序异常检测：滑动窗口与统计阈值 【摘要】在上深度学习之前，先把统计方法用到位。本文系统讲解滑动窗口、EWMA、MAD鲁棒阈值、CUSUM在半导体设备时序数据上的适用边界与参数选择，给出...
离子注入退火激活率：如何验证掺杂效果
[粉丝专享] 离子注入退火激活率：如何验证掺杂效果 【摘要】注入剂量对了不代表掺杂效果就对。本文讲清退火激活率的物理含义、四探针方块电阻与霍尔量测的适用边界、SIMS与扩展电阻的取舍，并给出一套可落地...