短期SPC与长期Sigma切换：标准做法与误区
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计数型控制图c图/u图：缺陷率监控正确姿势
[粉丝专享] 计数型控制图c图/u图：缺陷率监控正确姿势 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC过程控制类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章...
大模型做良率分析报告：Chain-of-Thought实战
[粉丝专享] 大模型做良率分析报告：Chain-of-Thought实战 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的半导体AI融合类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用...
EES工程控制系统：OEE数据采集与计算逻辑
[公开] EES工程控制系统：OEE数据采集与计算逻辑 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fa...
SPC与质量体系整合：IATF16949落地实践
[公开] SPC与质量体系整合：IATF16949落地实践 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC过程控制类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文...
Inline量测数据接入：从设备到报表的全链路
[粉丝专享] Inline量测数据接入：从设备到报表的全链路 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适...
多变量SPC控制图：相关变量联合监控实战
[粉丝专享] 多变量SPC控制图：相关变量联合监控实战 【摘要】本文以「SPC过程控制」为切入点，从行业演进趋势、技术基因差异、真实工程痛点、前沿解法四个层次展开，结合笔者在12寸Fab的一线实战数据...
SPC与SPC-Lite：轻量化监控的取舍
[公开] SPC与SPC-Lite：轻量化监控的取舍 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC过程控制类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合...
[公开] 良率会议怎么开：数据+行动项的高效模式
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[公开] 良率会议怎么开：数据+行动项的高效模式 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从背景故事、技术原理、现状分析、瓶颈问题、解决方案、实战案例到实施效果，给出可直接落地复用的完...
SPC误区之抽样频率：测得越多不等于控得越好
[粉丝专享] SPC误区之抽样频率：测得越多不等于控得越好 【摘要】很多工厂在质量出问题后的第一反应是"加大抽样"，结果量测机台被塞爆、控制图上假报警满天飞、真正的漂移反而被淹没。...