[公开] 工艺vs设备vs良率：三大岗位怎么选
![[公开] 工艺vs设备vs良率：三大岗位怎么选](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003300178655238097407.png)
[公开] 工艺vs设备vs良率：三大岗位怎么选 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的职场科普类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺工...
test program调试：良率异常先别怪工艺
[公开] test program调试：良率异常先别怪工艺 【摘要】本文聚焦半导体晶圆测试环节中Test Program调试这一关键工程活动，系统阐述良率异常时"先查Test Program...
用Plotly做交互式良率图：从静态截图到钻取分析的完整落地
[粉丝专享] 用Plotly做交互式良率图：从静态截图到钻取分析的完整落地 【摘要】本文讲清如何用Plotly与Dash把良率分析从静态PNG升级为可钻取的交互看板。覆盖lot到die四层数据模型设计...
[粉丝专享] 良率数据的陷阱：抽样测试掩盖的真相
![[粉丝专享] 良率数据的陷阱：抽样测试掩盖的真相](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003314178655239428178.png)
[粉丝专享] 良率数据的陷阱：抽样测试掩盖的真相 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺...
SPC异常自动告警：从触发到通知的最短链路
[公开] SPC异常自动告警：从触发到通知的最短链路 【摘要】从SPC判异到工程师真正动手，我们厂原本要花四十七分钟，一次CD超限因此多报废三批。本文把告警链路拆成量测入库、规则判定、事件生成、路由分...
[公开] 自相关数据用SPC失效：残差控制图的补救方案
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[公开] 自相关数据用SPC失效：残差控制图的补救方案 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC质量治理类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适...
颗粒污染与良率：洁净室等级的真实影响
[粉丝专享] 颗粒污染与良率：洁净室等级的真实影响 【摘要】洁净室从Class 1000升到Class 100，良率究竟能提升多少？本文从Murphy良率模型出发，讲清颗粒尺寸、致命缺陷密度与关键尺寸...
良率提升项目管理：从立项到收尾的方法论
[公开] 良率提升项目管理：从立项到收尾的方法论 【摘要】良率提升项目失败的原因往往不是技术不行，而是项目管理失控：目标模糊、基线不准、实验设计随意、结论无法固化。本文给出一套完整的六阶段项目管理方法...
SPC数据分层：设备/腔体/批次维度的正确拆解
SPC数据分层：设备/腔体/批次维度的正确拆解 同一产品不同设备/腔体的数据混在一起算SPC的陷阱，正确的分层策略与判异逻辑 一、背景故事：控制图"风平浪静"，良率却在悄悄恶化 在...
SPC与工程规格的博弈：谁说了算的现实困境
[粉丝专享] SPC与工程规格的博弈：谁说了算的现实困境 【摘要】控制限来自过程本身，规格限来自设计与客户，两者冲突时到底听谁的？本文用栅氧厚度与关键尺寸两个真实案例，拆解四种典型冲突场景的判定逻辑，...