质量数据散落在10个系统:我建了统一质量数据平台 [Abstract] FAB的质量数据分散在MES、FDC、SPC、缺陷检测、实验室LIMS等10+个系统里。每次质量问题分析,需要人工从各系统导出数...
产能利用率只有70%:我用排程优化把利用率拉到90% [Abstract] 产能利用率是FAB盈利能力的核心指标。我厂长期只有70%,大量设备闲置,订单交期却经常延误。原因是排程靠人工经验,没有系统优...
OEE只有65%:我用数据驱动把设备利用率拉到85% [Abstract] 设备综合效率(OEE)是FAB核心指标,我厂长期只有65%,远低于行业标杆85%。厂长要求提升,我接手后分析了6个月设备停机...
工艺窗口太窄良率不稳:我用DOE方法找到了最优参数组合 [Abstract] 新工艺导入时窗口太窄,温度偏差2度就超规,良率从92%波动到75%。PE调了一周没找到稳定点,我建议用实验设计(DOE)方...
一批晶圆报废找不到根因:我建了批次追溯系统后再没丢过数据 [Abstract] 那次事故让我印象深刻。客户投诉某批次产品良率偏低,要求提供完整工艺历史数据追溯。我翻遍了MES、FDC、设备日志,发现关...
[粉丝专享] 刻蚀负载效应:图形密度对速率的影响 【摘要】同一套刻蚀配方,A产品跑出的深度是356nm,B产品却只有312nm,设备日志、气体流量、RF功率全部正常。根因不在设备,而在版图——图形密度...
[粉丝专享] 刻蚀负载效应:图形密度对速率的影响 分类:设备工艺 | 发布:2026-08-11 4号槽位 一、痛点:同样的recipe,为什么不同wafer的刻蚀速率差30%? 刻蚀工艺最经典的难...
[粉丝专享] SPC控制限设错了:误报还是漏报的根本原因 分类:SPC过程控制 | 发布:2026-08-11 2号槽位 一、痛点:SPC控制限设错了,报警要么"全是误报"要么&...
[粉丝专享] SPC控制限的本质:为什么规格限不是控制限 分类:SPC过程控制 | 发布:2026-08-11 2号槽位 一、痛点:把客户规格当报警限,SPC天天红、却没人信 去年我们接了一个封装客...
[粉丝专享] 计数型SPC选错图型:p图还是u图,一线工程师的选图决策树 分类:SPC过程控制 | 发布:2026-08-11 1号槽位 一、痛点:一张选错的图型,让工程师白干三个月 去年上半年我在...