[公开] FAB加班文化:如何优雅地保护自己,同时不被当成不合群的人 【摘要】晶圆厂的加班很少来自某个人的恶意,它是设备连续运转、异常不可预测、人力配置紧绷三者叠加出来的结构性结果。本文拆解加班在Fa...
[公开] 半导体数据湖落地:把电性数据、设备日志与缺陷图片装进同一套体系 【摘要】失效分析要同时看WAT电性、CP测试、设备日志、AOI缺陷图和FA报告,但这些数据分散在五套系统里,格式从数值表到图片...
[公开] 刻蚀设备PM后首件:为什么总是不稳定,以及怎么把恢复时间压掉一半 【摘要】刻蚀机做完预防性维护复机,首件CD偏移、需要反复seasoning、恢复动辄六七个小时,是Fab里最常见也最少被系统...
[公开] test program调试:良率异常先别怪工艺 【摘要】本文聚焦半导体晶圆测试环节中Test Program调试这一关键工程活动,系统阐述良率异常时"先查Test Program...
[粉丝专享] 过程能力研究报告:一份能过审的模板长什么样 【摘要】本文系统介绍半导体Fab场景下过程能力研究(Cpk分析)的完整方法论,从数据采集、分布检验、能力指标计算到报告撰写规范,给出一套可直接...
[粉丝专享] FAB数据ETL:从采集到入仓的完整管道 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的数据工具类问题,从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验,给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fa...
[粉丝专享] 工程师副业的边界:竞业限制与合规红线到底在哪里 【摘要】本文系统梳理半导体与制造业工程师做副业时的四层法律约束:保密义务、竞业限制、职务发明与用工冲突。给出可执行的内容脱敏五要素法、十条...
[粉丝专享] 用Plotly做交互式良率图:从静态截图到钻取分析的完整落地 【摘要】本文讲清如何用Plotly与Dash把良率分析从静态PNG升级为可钻取的交互看板。覆盖lot到die四层数据模型设计...
[公开] 光刻机产能优化:曝光节拍的瓶颈分析 【摘要】一台标称每小时180片的浸没式光刻机,实际只跑到132片,原厂说是使用方式问题,产线说是设备问题。本文用日志把单片节拍拆成上下料、对准、调平、曝光...
[粉丝专享] 薄膜应力控制:晶圆翘曲的成因与缓解 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的设备工艺类问题,从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验,给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺...