SECS-GEM新手入门:搞懂这5点少走3个月弯路

叶志辉5天前1
SECS-GEM新手入门:搞懂这5点少走3个月弯路
[公开] SECS-GEM新手入门:搞懂这5点少走3个月弯路 【摘要】SECS-GEM的文档动辄上千页,新人往往在建链、事件订阅、数据格式这些地方反复卡壳。本文把真正需要先搞懂的五件事讲透:协议栈分层...

MES报警分级:真正需要人介入的只占一小部分

叶志辉5天前1
MES报警分级:真正需要人介入的只占一小部分
MES报警分级:真正需要人介入的只占一小部分 MES/Andon报警的分级策略与自动化处置,含P1/P2/P3分级标准与响应SLA设计 分类:MES自动化 引子:凌晨2点57分,手机震醒,一条P3级别...

多变量SPC(T²图):当参数之间强相关时怎么监控

叶志辉5天前1
多变量SPC(T²图):当参数之间强相关时怎么监控
多变量SPC(T²图):当参数之间强相关时怎么监控 Hotelling T\\u00b2控制图在半导体多参数工艺监控中的应用,含主成分降维与协方差监控 【摘要】温度、压力、流量三个单变量SPC控制图都...

[公开] 缺陷密度地图叠:找出系统性的弱点区域

叶志辉5天前1
[公开] 缺陷密度地图叠:找出系统性的弱点区域
[公开] 缺陷密度地图叠:找出系统性的弱点区域 分类:良率工程 | 发布:2026-08-11 8号槽位 一、痛点:缺陷数量我知道,但缺陷"长在哪里"才是关键 Fab缺陷分析最常...

多模态大模型读WaferMap:图文结合定位缺陷模式

叶志辉5天前1
多模态大模型读WaferMap:图文结合定位缺陷模式
多模态大模型读WaferMap:图文结合定位缺陷模式 GPT-4V/Gemini等视觉语言模型辅助FAB良率分析,从WaferMap图像识别失效模式 分类:半导体AI融合 发布时间:2026-0...

[公开] 良率baseline管理:别被综合良率数字骗了

叶志辉5天前1
[公开] 良率baseline管理:别被综合良率数字骗了
[公开] 良率baseline管理:别被综合良率数字骗了 分类:良率工程 | 发布:2026-08-11 6号槽位 一、痛点:Fab的良率数字看起来很好看,实际上在悄悄下降 Fab的良率管理有一个经...

[公开] 工程师效率工具:Python把每天2小时数据处理压到10分钟

叶志辉5天前1
[公开] 工程师效率工具:Python把每天2小时数据处理压到10分钟
[公开] 工程师效率工具:Python把每天2小时数据处理压到10分钟 分类:数据工具 | 发布:2026-08-11 3号槽位 一、痛点:工程师每天两小时耗在Excel上 我们部门有个数据接口工程...

[公开] SPC与工程规格博弈:控制限和SPEC不一样

叶志辉5天前1
[公开] SPC与工程规格博弈:控制限和SPEC不一样
[公开] SPC与工程规格博弈:控制限和SPEC不一样 分类:SPC过程控制 | 发布:2026-08-11 9号槽位 一、痛点:SPC报警触发,但工艺工程师说"实际没问题,不要停线&qu...

[公开] MES报表体系:没人看的报表等于没有

叶志辉5天前1
[公开] MES报表体系:没人看的报表等于没有
[公开] MES报表体系:没人看的报表等于没有 分类:MES自动化 | 发布:2026-08-11 10号槽位 一、痛点:MES报表没人看,不是因为数据没用,是因为展示方式有问题 MES系统的报表功...

[公开] 派工规则引擎:让算法帮你排产

叶志辉5天前4
[公开] 派工规则引擎:让算法帮你排产
[公开] 派工规则引擎:让算法帮你排产 分类:MES自动化 | 发布:2026-08-11 7号槽位 一、痛点:派工员每天花3小时排产,手工排的顺序永远不是最优的 Fab派工(Dispatching...