半导体数据可视化：Dashboard设计的原则
半导体数据可视化：Dashboard设计的原则 FAB数据看板设计规范，含OEE/SPC/良率/设备报警四大核心Dashboard布局原则 分类：数据工具 Dashboard做了30个，但没人看——是...
PVD溅射工艺：靶材利用率与膜质的取舍
PVD溅射工艺：靶材利用率与膜质的取舍 物理气相沉积溅射工艺的靶材利用率、薄膜应力与良率平衡实战 分类：设备工艺 靶材用了一半就要换，不然膜厚不均——靶材利用率和膜质怎么平衡？这是每一个在 FAB 里...
空间良率分析：晶圆边缘掉良率的常见成因
空间良率分析：晶圆边缘掉良率的常见成因 FAB晶圆边缘效应（Edge-Loss、楔形效应、热梯度）的物理成因与改善策略 分类：良率工程 引子：每片晶圆的Wafer Map上，边缘一圈总是稳定地掉良率，...
MES报警分级：真正需要人介入的只占一小部分
MES报警分级：真正需要人介入的只占一小部分 MES/Andon报警的分级策略与自动化处置，含P1/P2/P3分级标准与响应SLA设计 分类：MES自动化 引子：凌晨2点57分，手机震醒，一条P3级别...
多变量SPC(T²图)：当参数之间强相关时怎么监控
多变量SPC(T²图)：当参数之间强相关时怎么监控 Hotelling T\\u00b2控制图在半导体多参数工艺监控中的应用，含主成分降维与协方差监控 【摘要】温度、压力、流量三个单变量SPC控制图都...
多模态大模型读WaferMap：图文结合定位缺陷模式
多模态大模型读WaferMap：图文结合定位缺陷模式 GPT-4V/Gemini等视觉语言模型辅助FAB良率分析，从WaferMap图像识别失效模式 分类：半导体AI融合 发布时间：2026-0...
用Python连接MES数据库：安全查询的规范
用Python连接MES数据库：安全查询的规范 FAB工程师用Python安全访问MES数据库的规范，含参数化查询/连接池/日志审计 【分类】数据工具 【关键词】Python · MES数据库...
良率数据异常波动：先用SPC还是先查设备
[公开] 良率数据异常波动：先用SPC还是先查设备 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC质量治理类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合F...
SPC控制限设置过宽过窄：新人致命错误与正确做法
[公开] SPC控制限设置过宽过窄：新人致命错误与正确做法 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC质量治理类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文...
Python自动生成SPC周报：pandas+matplotlib实战
[公开] Python自动生成SPC周报：pandas+matplotlib实战 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的Python自动化类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可...