OEE只有65%:我用数据驱动把设备利用率拉到85%
OEE只有65%:我用数据驱动把设备利用率拉到85% [Abstract] 设备综合效率（OEE）是FAB核心指标，我厂长期只有65%，远低于行业标杆85%。厂长要求提升，我接手后分析了6个月设备停机...
工艺窗口太窄良率不稳:我用DOE方法找到了最优参数组合
工艺窗口太窄良率不稳:我用DOE方法找到了最优参数组合 [Abstract] 新工艺导入时窗口太窄，温度偏差2度就超规，良率从92%波动到75%。PE调了一周没找到稳定点，我建议用实验设计（DOE）方...
一批晶圆报废找不到根因:我建了批次追溯系统后再没丢过数据
一批晶圆报废找不到根因:我建了批次追溯系统后再没丢过数据 [Abstract] 那次事故让我印象深刻。客户投诉某批次产品良率偏低，要求提供完整工艺历史数据追溯。我翻遍了MES、FDC、设备日志，发现关...
电费占FAB成本15%:我用数据分析每年省下200万电费
电费占FAB成本15%:我用数据分析每年省下200万电费 [Abstract] 半导体FAB是用电大户，我所在工厂每年电费超过8000万。去年能源成本上涨，厂长要求降本。我接手后分析了3年用电数据，发...
CP/FT测试数据散落各处?我用Python+SQLite搭了个轻量TDMS
CP/FT测试数据散落各处?我用Python+SQLite搭了个轻量TDMS 【摘要】做良率分析最头疼的不是算法,是找数据:CP测试在设备导出里、FT测试在另一套系统、WIP在MES,分析一次要到处拷...
脏数据让我模型翻车3次:半导体数据质量治理的踩坑全记录
脏数据让我模型翻车3次:半导体数据质量治理的踩坑全记录 【摘要】我做半导体数据分析3年,被脏数据坑了不止3次:MES时间戳时区错乱导致OEE算错20%、单位不统一(μm与nm混用)让模型学反了规律、缺...
推了半年才立项:半导体AI项目怎么让厂长/质量总监买单
推了半年才立项:半导体AI项目怎么让厂长/质量总监买单 【摘要】我做过最难的AI项目不是算法,是立项。2022年我提AI质检,被厂长一句"准确率够吗?敢用吗?"怼回来。推了半年,靠...
[粉丝专享] 刻蚀负载效应：图形密度对速率的影响
![[粉丝专享] 刻蚀负载效应：图形密度对速率的影响](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260811225212178645993272478.png)
[粉丝专享] 刻蚀负载效应：图形密度对速率的影响 【摘要】同一套刻蚀配方，A产品跑出的深度是356nm，B产品却只有312nm，设备日志、气体流量、RF功率全部正常。根因不在设备，而在版图——图形密度...
[粉丝专享] 刻蚀负载效应：图形密度对速率的影响
![[粉丝专享] 刻蚀负载效应：图形密度对速率的影响](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813004131178655289121194.png)
[粉丝专享] 刻蚀负载效应：图形密度对速率的影响 分类：设备工艺 | 发布：2026-08-11 4号槽位 一、痛点：同样的recipe，为什么不同wafer的刻蚀速率差30%？ 刻蚀工艺最经典的难...
SPC控制限设错了：误报还是漏报的根本原因
[粉丝专享] SPC控制限设错了：误报还是漏报的根本原因 分类：SPC过程控制 | 发布：2026-08-11 2号槽位 一、痛点：SPC控制限设错了，报警要么"全是误报"要么&...