[粉丝专享] 计数型SPC(p图/u图)：缺陷率监控的正确姿势
![[粉丝专享] 计数型SPC(p图/u图)：缺陷率监控的正确姿势](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003000178655220027836.png)
[粉丝专享] 计数型SPC(p图/u图)：缺陷率监控的正确姿势 【摘要】大部分工程师熟悉的Xbar-R图属于计量型SPC，遇到缺陷数、不良率这类计数型数据时套用就会出错。本文讲清p图、np图、c图、u...
非正态数据控制图：Box-Cox变换实战应用
[公开] 非正态数据控制图：Box-Cox变换实战应用 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC过程控制类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适...
[粉丝专享] 把EDA分析交给Code Interpreter：一句话出良率报告
![[粉丝专享] 把EDA分析交给Code Interpreter：一句话出良率报告](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003004178655220423068.png)
[粉丝专享] 把EDA分析交给Code Interpreter：一句话出良率报告 【摘要】这里的EDA指探索性数据分析（Exploratory Data Analysis），不是电子设计自动化。本文记...
批次良率提升项目：从立项到ROI计算全流程
[粉丝专享] 批次良率提升项目：从立项到ROI计算全流程 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合F...
失效分析FA系统：从投诉到根因闭环管理
[公开] 失效分析FA系统：从投诉到根因闭环管理 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺...
方差分析ANOVA：在FAB工艺比较中的应用
[公开] 方差分析ANOVA：在FAB工艺比较中的应用 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC过程控制类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适...
[公开] 良率与设备指纹：哪台机台是隐形杀手
![[公开] 良率与设备指纹：哪台机台是隐形杀手](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003019178655221934701.png)
[公开] 良率与设备指纹：哪台机台是隐形杀手 【摘要】良率掉了一个多百分点，SPC却一片绿，问题往往藏在某台机台的某个腔体里。本文讲清共性分析（Commonality Analysis）的统计原理、混...
移动极差控制图I-MR：单件小批监控实战
[粉丝专享] 移动极差控制图I-MR：单件小批监控实战 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC过程控制类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适...
[粉丝专享] SPC看板设计：让操作员10秒看懂该不该停线
![[粉丝专享] SPC看板设计：让操作员10秒看懂该不该停线](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003025178655222532795.png)
[粉丝专享] SPC看板设计：让操作员10秒看懂该不该停线 【摘要】很多SPC看板做得很全，却没人看得懂，最后操作员还是凭经验判断该不该停线。本文从判异准则、认知负荷、色彩语义三个层面拆解看板设计原理...
Inline CD测量：光学与CD-SEM的测量差异分析
[公开] Inline CD测量：光学与CD-SEM的测量差异分析 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。...