工艺窗口 PW 分析工具｜设备数据与智能分析·多因子工艺窗口寻优（附源码）
工艺窗口 PW 分析 源码工具，设备数据与智能分析场景直接可用。工艺窗口多因子分析，支持响应曲面和DOE设计，核心能力：CCD/DOE设计、响应曲面图、CPK提升建议。解压即用，附完整源码与依赖清单，...
套刻 Overlay 分析工具｜良率与缺陷分析·层间对准偏移量评估（附源码）
套刻 Overlay 分析 源码工具，良率与缺陷分析场景直接可用。光刻套刻精度分析，支持Ovl/Hunter多种模型，核心能力：TIS统计、方向性分析、Spec合规判断。解压即用，附完整源码与依赖清单...
箱线图对比工具｜过程质量管控·多批次分布差异对比（附源码）
箱线图对比 源码工具，过程质量管控场景直接可用。多组数据，发现离群点和分布差异，核心能力：5数概括+离群点标注、组间差异可视化。解压即用，附完整源码与依赖清单，商用授权。...
六西格玛 DPMO工具｜过程质量管控·过程能力换算成质量水平（附源码）
六西格玛 DPMO 源码工具，过程质量管控场景直接可用。DPMO/PPM/Sigma Level/Z值全面换算，支持批量数据，核心能力：6σ到DPMO双向换算、DPMO直方图可视化。解压即用，附完整源...
AI正在"入侵"FAB：我用机器学习把膜厚良率预测准确率做到了93%
--- title: AI正在"入侵"FAB：我用机器学习把膜厚良率预测准确率做到了93% alias: yield-ai-fab-ml-prediction-film-thickness categ...
AI晶圆良率预测：XGBoost从数据到部署（工程师实战版）
--- title: AI晶圆良率预测：XGBoost从数据到部署（工程师实战版） alias: yield-ai-xgboost-engineer-wafer-prediction category...
Xbar-S 控制图工具｜过程质量管控·变子组过程能力评估（附源码）
Xbar-S 控制图 源码工具，过程质量管控场景直接可用。适合大样本分组分析、χ²控制限，核心能力：均值图+标准差图双视图、PDF导出。解压即用，附完整源码与依赖清单，商用授权。...
Xbar-R 控制图工具｜过程质量管控·批量数据做子组过程能力评估（附源码）
Xbar-R 控制图 源码工具，过程质量管控场景直接可用。支持D2/A2/D3/D4控制图常数、单值/均值/极差三图联动、内置CVD薄膜数据，核心能力：控制限自动计算、判异规则可视化、PDF/CSV导...
WaferMap 缺陷可视化工具｜良率与缺陷分析·8/12 英寸晶圆缺陷热力图（附源码）
WaferMap 缺陷可视化 源码工具，良率与缺陷分析场景直接可用。晶圆缺陷热力图可视化，支持8/12英寸晶圆，核心能力：内置模拟缺陷数据、Pattern自动识别。解压即用，附完整源码与依赖清单，商用...
WIP 在制品追踪工具｜MES 生产执行·在制品位置与状态实时跟踪（附源码）
WIP 在制品追踪 源码工具，MES 生产执行场景直接可用。Fab WIP实时追踪，批次工序流转查询，核心能力：批次状态查询、工序时间统计、WIP报表。解压即用，附完整源码与依赖清单，商用授权。...