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VIP工具资源包下载

VIP工具资源包下载(持续更新)

整理了 421个 半导体FAB工程师必备工具,覆盖SPC、OEE、FDC、MES、良率分析、工艺参数等全流程,全部免费下载使用。

🆕 本轮新增(2026-10-19 · 10 款)

本批 10 款是工厂现场真正在用的表单与 Excel 工具:5 套 SOP 纸质表单(Excel 可填版 + A4 打印版,签字归档直接用)+ 5 套品质/良率 Excel 工具(公式与图表已配好,录入数据即出结果)。全部逐份下载,解压即用,无需安装任何软件;每套都有配套的使用说明文章,讲清字段口径、判读方法与常见坑。已并入下方「SPC与质量分析」「其他工具」分类。

工具解决什么问题下载
设备日常点检表(Excel+PDF)17 项三段式点检项,填完自动汇总异常项与合格率;打印版已排 A4,可直接上机台挂板签字下载 zip
首件检验记录表 FAI(Excel+PDF)多测点自动算平均值与判定,超差单元格自动标红;对应首件放行流程,可追溯到检验员与机台下载 zip
制程巡检记录表 IPQC(Excel+PDF)巡检项符合率自动统计,异常项与处理措施成对记录,月末直接出符合率趋势下载 zip
不合格品处置单 NCR(Excel+PDF)MRB 评审栏(返工/让步/报废)与数量自动核对,防止处置数量与批次数量对不上下载 zip
工程变更管理单 ECN(Excel+PDF)七维影响评估(工艺/设备/品质/物料/成本/交期/文件)会签栏,变更前后对照可追溯下载 zip
良率分析与柏拉图工具(Excel)录入缺陷代码与数量,占比/累计占比/关键少数自动分级,柱线双轴柏拉图与 FPY 趋势图自动生成下载 zip
晶圆 BinMap 良率汇总(Excel)多片 Wafer 一次汇总,失效 Bin 分布与累计占比自动出,直接定位主要失效模式下载 zip
MSA GR&R 计算器(Excel)EV/AV/GRR/PV/TV 分解,%GRR 与 ndc 双判据自动结论;算过程能力之前先确认测量系统过关下载 zip
AQL 抽样方案计算器(Excel)GB/T 2828.1 自动查字码与样本量,Ac/Re 直接输出,抽样水平与严格度可切换下载 zip
设备 OEE 停机损失分析(Excel)时间稼动率/性能稼动率/良品率三段分解,六大损失分钟级归集并自动评级下载 zip

📦 2026-10-16 批次(10 款)

以下是本次新增的 10 款工具,主题是「把洁净度合不合规、纯水达不达标、检修前能量有没有清干净、这批料算不算重大危险源、一片晶圆到底能出多少颗芯片,这些平时靠经验拍或者干脆说不清的判断,换成有算式、有阈值、有成本的结论」:洁净与水质(洁净室洁净度等级判定 ISO 14644 / 超纯水 UPW 水质达标判定)、安全与能量(LOTO 上锁挂牌与能量隔离 / 危化品重大危险源临界量核算)、工程换算与厂务(半导体工程单位换算 / 管道流速管径选型与沿程压损)、工艺设备与产出(阀门 Cv 选型与闪蒸空化 / 换热器面积与 LMTD / 晶圆 Die Per Wafer 产出核算)、过程控制(PID 回路整定与响应品质评估)。共同口径:能算的都给出算式与中间量,结论必须带数字;数据不足时明确不外推,不给假精度。均已并入下方对应分类(分类内以橙框标记)。每款均含可运行 Python 脚本、自动示例数据、中文分析报告、README 使用说明与 1 套同主题 AI 提示词,核心功能零第三方依赖,Python 3.8+ 开箱即跑。

工具解决什么问题下载
洁净室洁净度等级判定器(ISO 14644)布了几个点、采了多少量,决定这次洁净度测试算不算数。按 NL=ceil(sqrt(A)) 算最少采样点数、V_min=(20/Cn,m)*1000 算单点最小采样量,再用 Cn=10^N*(0.1/D)^2.08 反算实测等级,同时给「逐点判定(2015 版)」与「95% UCL 判定(1999 版)」双口径结论下载 zip
超纯水UPW水质指标达标判定器22.6℃ 测到 15.8 MΩ·cm 未必不合格,先折算到 25℃ 再比。按 R25=R_T/(1+alpha*(T-25)) 做电阻率温度折算(low 温读数虚高、高温偏低),逐项对照电阻率/TOC/颗粒/细菌/二氧化硅/溶解氧三档限值,综合等级取最差项并给预处理 / EDI / 管路 / 终端过滤的排查方向下载 zip
LOTO上锁挂牌与能量隔离规划器只断主电源不等于隔离,压缩空气、液压蓄能器与弹簧都还存着能量。逐能量源估算储存能量(气动 P*V / 势能 mgh / 弹簧 0.5kx² / 热储能 mcΔT / 电能按电压分级)分四档定级,算所需锁具数(隔离点位+作业人数)与泄放等待时间,输出可直接用的 LOTO 作业票要素下载 zip
危化品重大危险源临界量核算器(GB 18218-2018)单品都没超临界量,多品类叠加起来可能已构成重大危险源。按 S=Σ(qi/Qi) 判是否构成,用 R=alpha*Σ(beta_i*qi/Qi) 定一至四级(级别看 R 不看总量),alpha 按厂区外暴露人数取 2.0/1.5/1.2/1.0/0.5,并反算降到下一档需要削减多少吨下载 zip
半导体工程单位换算器1 Torr 是 133.3 Pa 不是 100 Pa,sccm 与 slm 差三个零。长度/压力/流量/能量四张基准换算表 + 温度仿射换算,再按膜厚把方阻(ohm/sq)与电阻率(ohm·cm)打通,一条清单批量换算并给出中间量,换算口径全部可追溯下载 zip
每片晶圆芯片数 Die Per Wafer 与产出核算器用面积除面积估芯片数会高估 15% 以上,圆边切不出芯片。大圆公式 DPW=πr²/S-πD/√(2S) 与逐格四角判定法双算法对照,芯片面积含划片道,加上良率算净产出、单片收入与毛利率,边缘排除放宽的损失也算得出来下载 zip
管道流速、管径选型与沿程压损核算器内径缩小 10%、压损涨 40% 以上。算雷诺数与流态,湍流用 Swamee-Jain 显式解 Colebrook,沿程 + 局部(当量长度)+ 位差三项压损合计,同时给推荐管径与泵扬程、轴功率——漏算阀门与弯头当量长度是「实测压差远大于计算值」的头号原因下载 zip
阀门Cv流量系数选型与闪蒸空化判定器选阀三种翻车:选小过不了流量、选大长期小开度振荡、介质闪蒸打坏阀芯。按阻塞流上限 ΔP_allow=FL²(P1-Ff·Pv) 判定是否被阻塞,区分闪蒸与空化,核算开度是否落在 10%~90% 可控区间,给需做抗闪蒸/抗空化处理的阀门清单下载 zip
换热器换热面积与 LMTD 核算器逆流改并流不重算面积,换热量直接就下来。逆流/并流分别算 LMTD 与 F 修正后有效温差,A=Q*1000/(U*F*LMTD) 算所需面积与裕量,两侧热负荷交叉核对数据自洽性,并对温度交叉这类单台纯逆流做不到的工况直接判不可行下载 zip
PID控制回路整定与响应品质评估器纯滞后大的回路照抄手册比例度必然震荡。由 FOPDT 特征(K/T/L)分别按 Ziegler-Nichols 与 IMC/lambda 法整定,闭环仿真给超调量、上升时间、调节时间与衰减比,再评估现场当前参数是过激还是过缓、采样周期 Ts<=min(t>下载 zip

VIP工具包总览(共421个工具)

SPC与质量分析(82个)

SPC控制图、CPK过程能力、Nelson判异、MSA测量系统、良率损失分析、质量体系等
查看「SPC与质量分析」分类页:选型建议与常见问题 →

六西格玛水平计算器详解分布对比箱线图分析器半导体工艺控制计划工具v2半导体控制计划CP工具v2详解半导体质量管理体系QMSv2详解半导体SPC控制图分析工具v2详解抽样检验AQL计算器详解控制计划CP管理工具数据质量治理详解晶圆测试CP分析工具详解柏拉图Pareto分析器正态性检验工具详解良率损失分解器虚拟量测VM预测器质量体系QMS工具详解质量成本COPQ分析器详解鱼骨图5Why根因分析器8D报告生成器CPK过程能力计算器详解Cpk趋势监控器EWMA指数加权控制图详解FAB_柏拉图_Pareto分析工具详解FAB_量测数据比对分析器详解FAB_CPK_过程能力计算器详解FAB_EWMA_指数加权监控工具详解FAB_Nelson规则检验器详解FAB_SPC_控制图分析器详解IMR单值移动极差控制图详解MSA测量系统分析工具详解Nelson八规则控制图判异器详解SPC异常自动告警详解SPC控制图分析工具详解SPC控制图分析工具_20260716.u9958详解SPC控制图工具集详解XbarR均值极差控制图详解多变量SPC Hotelling T²监控工具详解晶圆缺陷空间图谱分类器详解D0缺陷密度良率模型计算器详解晶圆边缘排除区良率分析器详解FMEA失效模式与影响分析器详解正交实验设计DOE与方差分析器详解CUSUM累积和控制图分析器详解两样本t检验与均值比对器详解非正态过程能力分位数法计算器详解预控制PreControl判定器详解控制图检出力ARL计算器详解负二项良率模型计算器详解测量不确定度GUM评定计算器详解属性一致性Kappa分析器详解RTY直通率与隐含工厂损失分析器详解MSA偏倚与线性分析器详解控制图采样间隔与检验成本优化器详解良率学习曲线与提升目标测算器详解缺陷设备卡方关联检验器详解序贯抽样判定器SPRT详解色差与色容差判定器详解异常值与离群点检验器详解变异源分析与方差分量分解器详解质量功能展开QFD质量屋计算器详解计数型控制图与不合格率显著性检验器详解田口方法信噪比与质量损失函数分析器详解GRR量具重复性与再现性ANOVA分析器详解响应面RSM二阶模型与参数优化器详解抽样方案OC曲线与AOQ计算器详解AOI检出率误报率与阈值权衡分析器详解连续抽样检验CSP-1方案设计器详解混料配方设计与均匀度分析器详解检测判别效能ROC曲线与AUC分析器详解非参数检验分析器(Wilcoxon / Mann-Whitney / Kruskal-Wallis)详解计量型抽样检验方案设计器(ISO 3951 / MIL-STD-414 k 法)详解无损检测检出概率POD与 a90 / a90-95 评定器详解贝叶斯批不良率验收决策器(后验分布 + 可信区间)详解首件检验FAI差异比对与放行判定器详解控制图基线建立与阶段化监控分析器详解装配尺寸链公差堆叠分析器详解假设检验样本量与检出力设计器过程能力Pp-Ppk与Cpk差异诊断器跳批抽样检验方案与转移规则设计器部分析因筛选试验设计器测量系统能力CgCgk与测量不确定度折减评估器多道检验工位串联检出率与逃逸率优化器过程能力指数置信区间与判定样本量计算器

OEE与设备效能(70个)

OEE效率计算、设备MTBF/MTTR、FDC故障诊断、设备报警分析、维护排程等
查看「OEE与设备效能」分类页:选型建议与常见问题 →

产能负荷分析器详解传感器漂移检测工具半导体设备产能分析v2详解半导体设备维护调度v2详解半导体FDC故障诊断v2详解半导体OEE效率看板v2详解设备产能分析工具详解设备停机损失分析器_Andon设备台账校准周期管理器设备报警分析工具集详解设备报警频次分类分析器设备维护工具集设备维护排程优化器设备维护调度工具设备OEE效率工具详解FAB_产能规划仿真器详解FAB_告警收敛_KPI分析器详解FAB_哨兵点配置优化器详解FAB_备件库存优化器详解FAB_换型时间分析器详解FAB_设备健康评分计算器详解FAB_设备EAP连接测试器详解FAB_设备MTBF_MTTR分析器详解FAB_预测性维护计划生成器详解FAB_FDC_异常事件分析器详解FAB_FDC_故障规则配置工具详解FAB_MES_库存台账管理详解FAB_MES_设备维护工单详解FAB_OEE_设备综合效率计算器详解FDC故障检测工具集详解FDC故障诊断工具详解MQTT设备数据采集监控器详解MTBF_MTTR可靠性计算器OEE综合效率计算器OEE设备效率工具集详解OEE设备效率看板工具详解机台间匹配度ToolMatching分析器详解光罩寿命与使用次数管理器详解威布尔可靠性寿命与加速寿命外推器详解设备PM按期完成率与漏检预警管理器详解可靠性增长Duane模型分析器详解TEEP设备时间综合效率计算器详解设备能力指数Cmk计算器详解OEE数据可信度校验器详解可靠度验证试验样本量设计器详解SEMI_E10设备状态时长分解器详解PM后恢复曲线与稳定时间分析器详解设备报警关联规则挖掘器详解设备振动频谱与轴承故障频率分析器详解OEE六大损失瀑布分解器详解AMHS_OHT搬送能力与拥堵分析器详解设备轴承L10寿命与润滑周期计算器详解设备全生命周期成本LCC与经济更换年限分析器详解系统可靠性框图RBD与冗余配置分析器详解设备关键度评分与维修优先级排序器详解机台产能爬坡曲线与达标预测器详解设备报警 AI 分级与处置助手详解设备点检覆盖率与巡检工时平衡分析器详解设备油液分析与磨损趋势诊断器详解预防维修间隔与可用度成本最优化器设备定位精度与反向间隙验收分析器机床热变形与温升补偿分析器电机电流特征MCSA与转子故障诊断器UPS电池组后备时间与寿命评估器换热器污垢热阻与清洗周期优化器配电柜红外测温与接点过热缺陷判定器配电变压器经济运行负载率与损耗核算器离心泵工况点与汽蚀余量NPSH核算器旋转设备激光对中偏差与允许公差判定器🆕 LOTO上锁挂牌与能量隔离规划器

MES与生产管理(65个)

MES工单、WIP派工、批次追溯、物料BOM、生产排程、供应商管理等
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半导体批次追溯增强版v2半导体批次追溯工具v2详解半导体物料BOM管理v2详解半导体生产排程优化v2半导体MES工单管理v2详解批次追溯工具集详解批次追溯工具详解批次追溯系统Batch详解批次追溯系统详解物料BOM管理系统详解生产排程优化工具APS高级计划排程模拟器详解FAB_交期达成率预测器详解FAB_供应商来料检验系统详解FAB_批次追溯查询系统详解FAB_生产瓶颈分析器详解FAB_ISO文件版本管理系统详解FAB_MES_工单管理系统详解FAB_MES_生产排程器详解FAB_MES_良率管理系统详解FAB_WIP_在制品追踪器详解IQC进料检验工具详解MES工单管理工具集详解MES工单管理工具详解WIP动态派工调度器详解Q-time 站间等待超时预警工具详解上料防错(Poka-Yoke)校验与追溯器详解供应商质量绩效记分卡详解看板Kanban卡片数量计算器详解产线排班覆盖率与加班工时分析器详解Little定律WIP流动效率分析器详解标准工时秒表测时与人力产能计算器详解产线平衡率与节拍Takt分析器详解物料齐套率与缺料预警分析器详解人员技能矩阵与多能工覆盖率分析器详解PPAP提交等级与文件完整性核对器详解返工报废成本追踪器详解库存周转与呆滞物料分析器详解周期时间分解与瓶颈工序分析器详解MRP物料需求计划展开与EOQ计算器详解出货装柜与装箱容利用率优化器详解安全库存与再订货点ROP计算器详解需求预测指数平滑与预测偏差追踪器详解排队论机台数量与缓冲配置优化器详解价值流图VSM增值比与交付周期分析器详解作业成本法ABC制造成本分摊计算器详解可承诺量ATP与插单影响分析器详解生产线物料平衡与收率核算器详解标准成本差异分析器(价差 / 量差 / 效率差异)详解工程变更ECN断点与旧料消化规划器详解交接班记录 AI 摘要与待办提取器厂内线边配送 Milk-Run 路线与频次优化器详解工单准时交付率与延期原因帕累托分析器详解约束理论TOC鼓-缓冲-绳与缓冲管理分析器多品种生产组合与瓶颈产能分配优化器流水车间排序与调度启发式分析器多级库存与库存集中化效益分析器电子批记录EBR完整性与电子签名合规核查器MES与设备日志产量对账差异归因器在制品扣留批次影响面与处置决策评估器多源供应与供应中断风险采购分配优化器物料效期FEFO出库与过期报废风险核算器计件工资与直接人工成本核算器委外加工料账与损耗定额对账器经济生产批量EPQ与换型次数优化器

工艺参数分析(84个)

光刻/刻蚀/CMP/离子注入/薄膜沉积工艺参数优化、配方版本管理等
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光刻工艺参数工具详解光刻工艺工具集详解光刻曝光参数计算器详解刻蚀工艺分析工具刻蚀工艺参数工具刻蚀工艺工具集刻蚀速率均匀性分析器详解半导体光刻工艺参数v2详解半导体刻蚀工艺分析v2半导体离子注入分析v2半导体薄膜沉积分析v2半导体CMP研磨工艺v2套刻精度Overlay分析器工艺窗口优化工具集详解工艺窗口PW多因子分析器扩散退火工艺模拟器清洗颗粒度检测分析器离子注入剂量能量计算器详解离子注入参数工具离子注入工艺工具薄膜厚度均匀性分析器薄膜沉积分析工具薄膜沉积参数工具薄膜沉积工具集配方偏离Recipe检测器详解配方版本管理工具详解CMP化学机械抛光工具CMP研磨工艺工具CMP研磨速率计算器FAB_光刻参数优化器详解FAB_刻蚀速率预测器详解FAB_工艺窗口优化器详解FAB_离子注入剂量计算器详解FAB_薄膜厚度均匀性分析详解FAB_CMP_研磨速率计算器详解FAB_Recipe版本管理器详解热预算累积计算器详解热氧化层厚度Deal-Grove计算器详解WAT电性参数允收与批异常筛查器详解CD关键尺寸均匀性分析器详解四探针方块电阻计算器详解台阶覆盖率与深宽比计算器详解刻蚀选择比与过刻蚀容忍计算器详解蒙特卡洛容差仿真器详解光刻焦深DOF与曝光宽容度计算器详解晶圆翘曲BOW与薄膜应力分析器详解溅射靶材利用率与薄膜沉积成本计算器详解晶圆减薄背面研磨TTV均匀性分析器详解工艺参数相关性与共线性诊断器详解回流焊温度曲线合格判据分析器详解焊点热疲劳寿命Coffin-Manson预测器详解电镀镀层厚度与均匀性计算器详解钢网开孔面积比与锡膏量计算器详解真空系统抽气时间与漏率核算器详解PCB特性阻抗与叠层计算器详解扩散结深与薄层电阻换算器详解湿法清洗SC1SC2药液配比与颗粒去除计算器详解旋涂光刻胶厚度与转速工艺窗口计算器详解ALD原子层沉积循环数与饱和生长计算器详解外延层厚度与自掺杂过渡区分析器详解晶圆键合对准精度与键合强度分析器详解划片崩边率与刀片寿命分析器详解离子注入沟道效应与倾斜角设计器详解封装塑封空洞率与基板翘曲分析器详解CMP碟形凹陷与侵蚀量预测器光刻掩模MEEF与CD偏差传递分析器刻蚀终点检测EPD与OES光谱判定分析器晶圆探针卡针压与针痕分析器静电吸盘ESC吸附力与背面氦泄漏检测分析器硅通孔TSV铜填充空洞风险与电镀窗口分析器倒装焊底部填充Underfill流动与空洞评估器腔体Season与首片效应分析器刻蚀负载效应与开口面积比补偿计算器芯片贴装银浆量BLT与空洞率评估器湿法刻蚀各向异性与掩模底切计算器等离子体刻蚀自偏压与离子能量计算器光刻胶显影对比度与显影窗口分析器刻蚀侧壁钝化与副产物再沉积形貌分析器MOS电容C-V特性与氧化层电荷分析器霍尔效应测量与载流子浓度迁移率分析器电迁移Black方程寿命与电流密度设计窗口计算器🆕 阀门Cv流量系数选型与闪蒸空化判定器🆕 换热器换热面积与 LMTD 核算器🆕 PID控制回路整定与响应品质评估器

AI与智能分析(44个)

LSTM良率预测、KNN缺陷分类、虚拟量测、异常检测、能耗优化等
查看「AI与智能分析」分类页:选型建议与常见问题 →

批次良率趋势追踪器电费峰谷优化调度器缺陷分类追踪工具缺陷密度关联分析器缺陷密度良率关联分析器APC参数优化工具集详解FAB能耗碳排放核算器详解FAB_水耗分析工具详解FAB_电价优化调度器详解FAB_碳排放计算器详解FAB_缺陷分类_KNN工具详解FAB_能耗监控看板详解FAB_良率预测_LSTM工具详解压缩空气系统能耗与泄漏率计算器详解冷冻水系统COP与冷却塔能耗分析器详解单位产品能耗EnPI基准与节能量核算器详解功率因数与需量电费优化计算器详解蒸汽管网热损失与冷凝水回收核算器详解特气用量与钢瓶更换周期核算器详解超纯水UPW系统回收率与产水成本核算器详解设备信号特征工程器(批量提特征 + 类间可分性排序)详解马氏距离多变量异常检测器详解趋势与突变点检测器(Mann-Kendall + Pettitt)详解设备健康指数HI与剩余寿命RUL估算器详解工单文本自动分类器(朴素贝叶斯)详解异常检测阈值自动整定器详解工艺参数聚类分群分析器(K-means)详解DeepSeek 接入配置与自检器详解SPC 判异 AI 归因助手详解工艺参数漂移 AI 诊断助手详解良率根因 AI 问答助手详解设备维修知识库 AI 问答器详解8D 报告 AI 初稿生成器详解来料异常 AI 沟通函件生成器详解AI 提示词模板库与用量成本台账详解决策树规则提取与关键参数重要性排序器详解贝叶斯优化工艺参数寻优器(高斯过程+EI)多目标工艺权衡与帕累托前沿分析器电机能效等级与变频调速节能测算器工艺曲线DTW相似度检索与最优批次匹配器循环冷却水浓缩倍数与排污补水核算器锅炉热效率与排烟热损失核算器🆕 超纯水UPW水质指标达标判定器🆕 管道流速、管径选型与沿程压损核算器

工程效率工具(12个)

FAB日报、报表自动化、工程师日报、术语换算等效率工具
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其他工具(54个)

其他实用工具
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半导体洁净室监控v2半导体缺陷追踪工具v2半导体良率分析工具v2详解晶圆WaferMap缺陷可视化器洁净室监控工具洁净室监控系统缺陷追踪工具膜厚测量数据分析工具详解良率分析工具集详解良率分析工具_20260716.u9981详解良率分析工具详解BinMap良率帕累托分析器FAB_客户投诉处理追踪器详解FAB_废弃物管理系统详解FAB_质量异常处理流程器详解FAB_黄金片校准工具详解FAB_GEM300_事件监控器详解FAB_QA审核检查清单详解FAB_SECSGEM_协议调试工具详解FAB_SECS_消息构造器详解SECS-GEM消息解析器详解药液槽寿命BathLife管理器详解晶圆单Die制造成本核算器详解ESD静电防护合规检查器详解故障树FTA最小割集分析器详解EHS安全绩效TRIRLTIFR计算器详解洁净室换气次数ACPH与FFU数量设计器详解FOUP粒子趋势与清洗周期预警器详解LED结温与热阻计算器详解LED光通维持率LM80外推器详解LED光效与驱动电流分析器详解光纤链路功率预算计算器详解OTDR链路衰减与事件分析器详解以太网RFC2544测试分析器详解光谱与色度分析器详解测试机并测数与测试产能成本计算器详解治具与测试座寿命管理器详解打线弧高与焊线拉力预测器详解库存循环盘点计划与ABC_XYZ分类器详解湿度敏感等级MSL与烘烤时间计算器详解车间布局与物流强度分析器(From-To 图)详解化学品相容性与混存风险检查器详解噪声暴露剂量与听力保护评估器详解人机工程作业姿势负荷评估器(REBA)仓储货位分配与拣选路径优化器洁净室压差梯度与开门扰动分析器弧闪能量ArcFlash与作业安全距离评估器老化测试Burnin筛选时间与成本优化器工艺废气洗涤塔效率与排放达标核算器受限空间作业气体检测与准入判定器工装夹具关键件强度校核与安全系数计算器🆕 洁净室洁净度等级判定器(ISO 14644)🆕 危化品重大危险源临界量核算器(GB 18218-2018)🆕 每片晶圆芯片数 Die Per Wafer 与产出核算器

使用说明

1. 点击上方任意工具名称即可下载对应ZIP压缩包。

2. 解压后双击运行 .py 文件即可使用(需 Python 3.8+ 环境,推荐 Anaconda)。

3. 所有工具均为独立 Tkinter GUI 界面,开箱即用,无需额外配置。

如需其他工具或有使用问题,可在对应文章下留言,我会持续更新更多实用工具。

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