这个工具解决什么问题 输入:批量N(批大小)、AQL等级(接收质量限)、检验水平 基于 ISO 2859.1 简化抽样标准表,输出: · 样本量 n · 接收数 Ac(Accept) · 拒收数...
这个工具解决什么问题 SPC(Statistical Process Control)统计过程控制图系统是半导体FAB工艺质量控制的核心工具。通过X-bar/R控制图实时监测工艺参数的稳定性,自动应...
这个工具解决什么问题 半导体FAB综合质量管理体系工具,集成SPC/OEE/IPC/IQC看板、NCR流程、8D报告、FMEA管理、QCP控制计划、PPAP清单、质量成本统计七大模块。 🔧 功能列表...
这个工具解决什么问题 CP(Circuit Probing)晶圆测试数据综合分析工具,专为半导体FAB工程师设计。 支持Die良率图、Fail Bin统计、Pearson相关性分析、批量晶圆对比等核...
这个工具解决什么问题 输入 DPMO(每百万机会缺陷数)或缺陷率(带%),自动计算: · 西格玛水平 Z 值(不含偏移) · 修正西格玛水平(含 1.5σ 长期偏移) · 合格率百分比 · 修正后实...