[公开] 知识图谱+LLM诊断工艺偏移:因果链可视化实践

叶志辉5天前5
[公开] 知识图谱+LLM诊断工艺偏移:因果链可视化实践
[公开] 知识图谱+LLM诊断工艺偏移:因果链可视化实践 【摘要】一次CD偏移排查,八名工程师查了三天,最后发现根因是四周前的一次备件更换。问题不在数据不够,而在数据之间的关系没有被建模。本文给出知识...

刻蚀关键尺寸(CD)控制:线宽偏差的根因

叶志辉5天前4
刻蚀关键尺寸(CD)控制:线宽偏差的根因
刻蚀关键尺寸(CD)控制:线宽偏差的根因 刻蚀工艺CD漂移的根因分析,含过刻蚀/负载效应/温度/功率影响与先进制程控制策略 【分类】设备工艺 【关键词】刻蚀 CD 控制 · 负载效应 · 过刻蚀...

刻蚀负载效应:腔体补偿让片内均匀性从正负5%到正负2%

叶志辉5天前1
刻蚀负载效应:腔体补偿让片内均匀性从正负5%到正负2%
[粉丝专享] 刻蚀负载效应:腔体补偿让片内均匀性从正负5%到正负2% 分类:设备工艺 | 发布:2026-08-11 4号槽位 一、痛点:同一片晶圆,中间刻得快、边缘刻得慢 我们有一条氧化物刻蚀线,...

[粉丝专享] SPC控制限设错了:误报还是漏报的根本原因

叶志辉5天前2
[粉丝专享] SPC控制限设错了:误报还是漏报的根本原因
[粉丝专享] SPC控制限设错了:误报还是漏报的根本原因 分类:SPC过程控制 | 发布:2026-08-11 2号槽位 一、痛点:SPC控制限设错了,报警要么"全是误报"要么&...

[公开] 良率数据异常波动:先用SPC还是先查设备

叶志辉5天前4
[公开] 良率数据异常波动:先用SPC还是先查设备
[公开] 良率数据异常波动:先用SPC还是先查设备 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC质量治理类问题,从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验,给出可直接落地复用的实战方案。文章适合F...

[粉丝专享] SPC控制限的本质:为什么规格限不是控制限

叶志辉5天前3
[粉丝专享] SPC控制限的本质:为什么规格限不是控制限
[粉丝专享] SPC控制限的本质:为什么规格限不是控制限 分类:SPC过程控制 | 发布:2026-08-11 2号槽位 一、痛点:把客户规格当报警限,SPC天天红、却没人信 去年我们接了一个封装客...

[粉丝专享] 计数型SPC选错图型:p图还是u图,一线工程师的选图决策树

叶志辉5天前5
[粉丝专享] 计数型SPC选错图型:p图还是u图,一线工程师的选图决策树
[粉丝专享] 计数型SPC选错图型:p图还是u图,一线工程师的选图决策树 分类:SPC过程控制 | 发布:2026-08-11 1号槽位 一、痛点:一张选错的图型,让工程师白干三个月 去年上半年我在...

[粉丝专享] 计数型SPC:p图u图选错,分析结论全错

叶志辉5天前6
[粉丝专享] 计数型SPC:p图u图选错,分析结论全错
[粉丝专享] 计数型SPC:p图u图选错,分析结论全错 分类:SPC过程控制 | 发布:2026-08-11 1号槽位 一、痛点:p图u图选错,分析结论全错 计数型SPC和计量型SPC的核心区别是什...

[公开] SPC控制限设置过宽过窄:新人致命错误与正确做法

叶志辉5天前7
[公开] SPC控制限设置过宽过窄:新人致命错误与正确做法
[公开] SPC控制限设置过宽过窄:新人致命错误与正确做法 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC质量治理类问题,从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验,给出可直接落地复用的实战方案。文...

[粉丝专享] Fab工程师的效率工具:让信息主动找你

叶志辉5天前4
[粉丝专享] Fab工程师的效率工具:让信息主动找你
[粉丝专享] Fab工程师的效率工具:让信息主动找你 分类:MES自动化 | 发布:2026-08-11 3号槽位 一、痛点:工程师的时间浪费在"找东西"上 Fab工程师每天有多...