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多模态大模型读WaferMap：图文结合定位缺陷模式
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良率数据异常波动：先用SPC还是先查设备
[公开] 良率数据异常波动：先用SPC还是先查设备 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC质量治理类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合F...
SPC控制限设置过宽过窄：新人致命错误与正确做法
[公开] SPC控制限设置过宽过窄：新人致命错误与正确做法 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC质量治理类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文...
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[公开] Python自动生成SPC周报：pandas+matplotlib实战 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的Python自动化类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可...
MES报表数据对不上：批次状态不一致排障
[公开] MES报表数据对不上：批次状态不一致排障 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的MES/CIM系统落地类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文...
MES工单状态卡死：批次追溯链路断点定位
[公开] MES工单状态卡死：批次追溯链路断点定位 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的MES/CIM系统落地类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文...
设备数据采集断点：SECS消息丢失的四种根因
[公开] 设备数据采集断点：SECS消息丢失的四种根因 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的EAP设备对接类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适...
缺陷密度地图叠：找出系统性的弱点区域
[公开] 缺陷密度地图叠：找出系统性的弱点区域 分类：良率工程 | 发布：2026-08-11 8号槽位 一、痛点：缺陷数量我知道，但缺陷"长在哪里"才是关键 Fab缺陷分析最常...
良率baseline管理：别被综合良率数字骗了
[公开] 良率baseline管理：别被综合良率数字骗了 分类：良率工程 | 发布：2026-08-11 6号槽位 一、痛点：Fab的良率数字看起来很好看，实际上在悄悄下降 Fab的良率管理有一个经...