半导体行业30套专业提示词包（免费打包下载）
这是一套什么资料
面向Fab工艺/设备/良率工程师、CIM/MES/EAP开发、半导体数据分析与AI应用人群的30套专业AI提示词合集。每套独立成文件，复制到任意AI工具（ChatGPT、文心、通义、WorkBuddy等）即可使用，覆盖良率分析、SPC、FMEA、DOE、SECS-GEM、EAP、MES、CIM、PHM、产能排程等30个高频工作场景。
下载地址
📦 点击下载：半导体Fab工程师AI提示词合集（30套）.zip
压缩包内含：README使用说明、prompts目录（30个独立txt，UTF-8编码）、30套提示词总清单Excel（可直接用于选型与二次整理）。
使用方法
1. 下载并解压 → 2. 打开 prompts 目录任选一套 → 3. 复制提示词正文到AI工具 → 4. 把你的数据、问题描述贴在后面发送即可。
30套提示词目录
| 序号 | 提示词标题 | 简介 | 分类 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半导体晶圆良率分析｜Python数据分析提示词 Fab良率工程师 | 专为晶圆厂良率工程师，自动生成Python代码，做wafer map、良率分层、缺陷聚类，输出分析报告。 | 工艺良率类 |
| 2 | 半导体SPC统计过程控制｜工艺监控分析提示词 | 半导体薄膜、刻蚀、CMP工艺SPC管控，自动生成控制图、判异规则、异常根因分析。 | 工艺良率类 |
| 3 | 半导体FMEA失效模式分析｜芯片工艺风险评估提示词 | 芯片制造工艺DFMEA/PFMEA，快速构建失效分析清单，RPN风险打分。 | 工艺良率类 |
| 4 | 半导体DOE实验设计｜工艺参数优化提示词 | 光刻、刻蚀、沉积工艺DOE，设计实验方案，分析因子显著性，寻找最优工艺窗口。 | 工艺良率类 |
| 5 | 半导体晶圆SEM缺陷失效分析报告生成提示词 | 拿到SEM电镜图片描述，直接输出专业失效分析FA报告，适合失效分析工程师。 | 工艺良率类 |
| 6 | 半导体CMP化学机械抛光｜工艺异常排查提示词 | CMP抛光不均、碟形凹陷、腐蚀缺陷，快速定位根因，排查耗材、压力、浆料参数。 | 工艺良率类 |
| 7 | 半导体光刻Litho工艺窗口｜DOE与边缘粗糙度分析提示词 | 光刻CD、线宽、EPE、LWR边缘粗糙度，工艺窗口评估。 | 工艺良率类 |
| 8 | 半导体刻蚀Etch工艺异常诊断｜等离子体刻蚀根因分析提示词 | 干法刻蚀，刻蚀速率、选择比、侧壁角度异常，快速诊断。 | 工艺良率类 |
| 9 | 半导体PVDCVD薄膜沉积｜膜厚均匀性分析提示词 | 金属/介质薄膜沉积，膜厚不均、颗粒缺陷、应力异常分析。 | 工艺良率类 |
| 10 | 半导体CP晶圆测试｜电性失效良率诊断提示词 | CP晶圆探针测试，电性失效分类，定位是设计、工艺还是机台问题。 | 工艺良率类 |
| 11 | SECS-GEM半导体设备通讯｜消息编写调试提示词 | 半导体设备SECS/GEM协议开发，SML消息、状态机、报警逻辑。 | 设备与自动化类 |
| 12 | 半导体EAP设备自动化｜机台自动控制开发提示词 | Fab EAP系统，对接SECS，实现配方下载、数据采集、报警拦截。 | 设备与自动化类 |
| 13 | 半导体MES制造执行系统｜需求PRD编写提示词 | 晶圆厂MES，批次流转、制程防呆、追溯、物料管理需求撰写。 | 设备与自动化类 |
| 14 | 半导体CIM系统架构设计｜Fab全厂信息化方案提示词 | 晶圆厂CIM整体架构，MES/EAP/WMS/RMS集成方案。 | 设备与自动化类 |
| 15 | 半导体YMS良率管理系统｜业务逻辑设计提示词 | YMS良率系统，接收测试数据，wafer map展示、良率报表、异常告警。 | 设备与自动化类 |
| 16 | 半导体WMS晶圆物料仓储系统｜需求设计提示词 | 晶圆盒、光罩、化学品仓储管理，先进先出、库存追溯。 | 设备与自动化类 |
| 17 | 半导体设备PHM预测性维护｜Python故障预测提示词 | 机台传感器数据，AI预测设备故障，减少停机。 | 设备与自动化类 |
| 18 | Fab机台设备报警｜根因定位与知识库构建提示词 | 海量设备报警日志自动归类，定位高频故障，建立故障知识库。 | 设备与自动化类 |
| 19 | 晶圆Lot生产流转防呆｜MES业务规则提示词 | MES批次防呆，跳工艺、重复加工、错配方拦截规则。 | 设备与自动化类 |
| 20 | SECS-GEM通讯断连、消息超时｜故障排查提示词 | EAP与机台通讯掉线、消息无应答、SML解析失败排查。 | 设备与自动化类 |
| 21 | Python读取半导体WAT/CP测试数据 解析+可视化提示词 | WAT电性测试数据解析，批量读取，自动统计，绘图。 | Python数据分析与AI应用 |
| 22 | 半导体工艺参数相关性｜Python相关性分析提示词 | 挖掘工艺参数和良率之间的关联，找出关键影响因子。 | Python数据分析与AI应用 |
| 23 | 半导体晶圆缺陷图像AI检测｜模型方案提示词 | 晶圆光学检查AOI缺陷图片，AI分类缺陷类型。 | Python数据分析与AI应用 |
| 24 | Fab工艺参数时序预测｜Python时序模型提示词 | 工艺参数时序预测，提前预判参数漂移。 | Python数据分析与AI应用 |
| 25 | 半导体Fab技术报告/标准作业SOP文档生成提示词 | 快速生成Fab内部SOP、技术报告、变更ECN文档。 | Python数据分析与AI应用 |
| 26 | 半导体行业知识库｜AI智能体问答提示词 | 搭建Fab内部AI问答知识库，用于工程师快速查工艺、设备问题。 | Python数据分析与AI应用 |
| 27 | 半导体耗材BOM清单校验｜物料成本分析提示词 | Fab机台耗材、化学品BOM核对，成本统计。 | Python数据分析与AI应用 |
| 28 | 半导体新工艺导入PI项目风险评估提示词 | 新工艺/新机台导入，PI项目风险评估，识别量产风险。 | Python数据分析与AI应用 |
| 29 | Fab晶圆产能排程｜生产调度优化提示词 | 工厂Lot排产，产能瓶颈分析，优化生产顺序。 | Python数据分析与AI应用 |
| 30 | 半导体Fab工程师面试｜专业问答提示词 | 半导体工艺、良率、CIM面试题库，模拟面试，解答专业问题。 | Python数据分析与AI应用 |
常见问题
Q：提示词可以商用吗？
A：可用于个人与本职工作，请勿二次售卖原始文件。
Q：会在别的栏目和这批资料混淆吗？
A：不会。本栏目为「AI提示词包」独立栏目，与站内VIP资料包完全分开。
本文由叶志辉个人技术站原创整理，转载请注明出处。更多半导体实战工具见「半导体工具包」栏目。