晶圆良率分析Python工具免费下载｜Wafer Map+良率分层报表

工具简介

读取CP测试数据，自动绘制Wafer Map、统计每片晶圆良率与FAIL bin分布、边缘/中心分层对比，输出中文分析报告。

资料包内容

· 主程序 wafer_yield_analyzer.py（Python 3.8+，核心功能零第三方依赖）
· 自动生成示例数据，开箱即跑
· README 使用说明
· 附赠1套同主题AI提示词

运行方法

解压后进入目录执行：
python analyzer.py
无数据文件时自动生成示例数据；装有 matplotlib / openpyxl 时会额外输出图表与Excel。

适配数据格式

CP晶圆测试数据（wafer_id,x,y,bin）（示例数据已内置，替换为真实数据即可使用）

下载地址

📦 点击下载：晶圆良率分析Python工具.zip

示例数据均为模拟数据，仅供学习方法演示；接入真实产线数据前请完成数据安全评估。本栏目「半导体工具包」与站内VIP资料包相互独立。