缺陷源追溯：从WaferMap反推到具体工序
[粉丝专享] 缺陷源追溯：从WaferMap反推到具体工序 【摘要】WaferMap上出现一片异常图形，怎么在几百道工序里锁定源头？本文给出一套可执行的追溯方法：先做图形分类，再用共性分析在设备维度做...
设备产能仿真：上线前如何预估节拍瓶颈
[粉丝专享] 设备产能仿真：上线前如何预估节拍瓶颈 【摘要】新产线还没建好，产能承诺已经报上去了，凭什么？本文用离散事件仿真的思路，把设备节拍、搬运时间、批次规则、故障分布和缓冲区容量组合成一个可计算...
FAB技术文档的价值：被低估的软实力
[公开] FAB技术文档的价值：被低估的软实力 【摘要】在Fab里，写文档常被当成不出活的表现。但真正拉开工程师差距的，往往不是谁解过更难的问题，而是谁的解法能被别人复用。本文用实际数据说明文档缺失的...
FAB KPI体系：从数据到指标的映射
[公开] FAB KPI体系：从数据到指标的映射 【摘要】同一个OEE，制造部算出来85%，设备部算出来72%，报表系统显示78%。指标打架的根源不是算法不同，而是从原始数据到指标之间的映射链路从来没...
[公开] Prompt工程在半导体数据分析中的5个高频模板
![[公开] Prompt工程在半导体数据分析中的5个高频模板](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003224178655234449185.png)
[公开] Prompt工程在半导体数据分析中的5个高频模板 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的半导体AI融合类问题，从背景故事、技术原理、现状分析、瓶颈问题、解决方案、实战案例到实施效果，给出可...
薄膜均匀性分析器：49点数据的解读
[公开] 薄膜均匀性分析器：49点数据的解读 【摘要】49点厚度数据每天都在测，但绝大多数工程师只看一个均匀性百分比就翻页了。本文把49点数据拆成均值、径向分量、方位角分量、边缘分量和随机残差五个部分...
良率与量产爬坡曲线：学习曲线的数学建模
[公开] 良率与量产爬坡曲线：学习曲线的数学建模 【摘要】新产品导入量产后，良率爬坡到底该多快、什么时候能达到承诺值，绝大多数工厂靠拍脑袋。本文用三种学习曲线模型（指数逼近、Wright幂律、Gomp...
[粉丝专享] 2nm节点的量测挑战：精度逼近物理极限
![[粉丝专享] 2nm节点的量测挑战：精度逼近物理极限](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003228178655234856519.png)
[粉丝专享] 2nm节点的量测挑战：精度逼近物理极限 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的前沿趋势类问题，从背景故事、技术原理、现状分析、瓶颈问题、解决方案、实战案例到实施效果，给出可直接落地复用...
[粉丝专享] FAB倒班的真相：身体和收入的账怎么算
![[粉丝专享] FAB倒班的真相：身体和收入的账怎么算](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003231178655235145215.png)
[粉丝专享] FAB倒班的真相：身体和收入的账怎么算 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的职场科普类问题，从背景故事、技术原理、现状分析、瓶颈问题、解决方案、实战案例到实施效果，给出可直接落地复用...
AI辅助良率爬坡：从数据到行动项的闭环设计
[粉丝专享] AI辅助良率爬坡：从数据到行动项的闭环设计 【摘要】本文针对半导体AI融合领域的实战问题，从真实场景出发，展开完整的技术分析、现状诊断、解决方案设计与落地经验分享。文章适合相关方向的工程...