半导体行业周期：寒冬里工程师怎么自处
[公开] 半导体行业周期：寒冬里工程师怎么自处 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的职场科普类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺工...
缺陷图像处理：OpenCV提取缺陷特征
缺陷图像处理：OpenCV提取缺陷特征 用OpenCV对缺陷SEM/光学图像做预处理、分割、特征提取（面积/圆度/方向），构建缺陷特征库 ───────────────────────────────...
光刻焦距窗口（DOF）：工艺窗口的多因子分析
光刻焦距窗口（DOF）：工艺窗口的多因子分析 光刻焦深（DOF）与NA/波长/光刻胶厚度的关系，焦距窗口的DOE优化与良率影响 ────────────────────────────────────...
数字孪生工厂：从概念到FAB落地的距离
数字孪生工厂：从概念到FAB落地的距离 半导体数字孪生工厂的技术架构、实时数据同步难点与产线落地案例，含虚实映射分层 PPT里的数字孪生工厂很炫，但真正的FAB里连实时数据同步都还没搞定——差距在哪里...
用Python自动生成良率日报：省下每天2小时
用Python自动生成良率日报：省下每天2小时 pandas+matplotlib自动化良率日报pipeline，从数据到PPT级别的完整代码 【开篇】每天花2小时整理良率数据做日报，一周就是10小时...
Python实现CPK批量计算：多参数一键出报告
Python实现CPK批量计算：多参数一键出报告 用Python批量计算几十个工艺参数的Cp/Cpk/Pp/Ppk，自动判定能力等级并生成Word报告 【开篇】每个月要算200个参数的CPK，手动算到...
湿法清洗的颗粒控制：颗粒度检测与工艺优化
湿法清洗的颗粒控制：颗粒度检测与工艺优化 湿法清洗工艺中颗粒污染的来源、颗粒度检测方法（SPC/液滴激光）与工艺参数优化 【开篇】清洗完的晶圆颗粒数超标，良率掉了3个点——问题出在清洗液、槽体还是干燥...
良率预测模型：上线前就知道这批能出多少好Die
良率预测模型：上线前就知道这批能出多少好Die 基于SPC数据、设备状态与工艺参数构建批级良率预测模型，含特征工程与模型评估 图2 XGBoost良率预测模型特征重要性排名（基于2400批次28nm工...
Recipe版本管理：一次参数错误引发的百万损失
Recipe版本管理：一次参数错误引发的百万损失 半导体FAB Recipe版本管理的失控点、防错机制与MES联动管控实战 图1 Recipe版本失控路径 vs 管控路径对比 一、背景故事：0.5%的...
控制限和规格限混用：新人最常犯的致命错误
控制限和规格限混用：新人最常犯的致命错误 控制限(±3σ过程能力)与规格限(客户要求)的本质区别，混用导致的误判案例与正确用法 新人把USL/LSL当成控制限画在SPC图上，结果整天误报警——这两个&...