[公开] 良率数据可视化:一张图说服管理层投钱 【摘要】本文从管理层的决策视角出发,讲清楚良率数据可视化怎么做:图表选型、一页纸仪表盘设计、技术指标到财务语言的翻译,并用一个真实案例演示如何用一张图说...
[粉丝专享] 良率数据可视化:一张图说服管理层投钱 【摘要】本文聚焦Fab工程师在良率改善项目管理中最核心的技能——数据可视化。从良率数据的正确表达、常见可视化错误、到能够打动管理层的图表设计方法,给...
[粉丝专享] SPC在薄膜厚度监控中的应用:均匀性怎么纳入 【摘要】薄膜厚度是半导体前道制造中监控最密集的工艺参数之一,但很多Fab的SPC体系只盯着每片晶圆的平均厚度,把片内均匀性晾在一边,结果均值...
[公开] test program调试:良率异常先别怪工艺 【摘要】本文聚焦半导体晶圆测试环节中Test Program调试这一关键工程活动,系统阐述良率异常时"先查Test Program...
[粉丝专享] 用Plotly做交互式良率图:从静态截图到钻取分析的完整落地 【摘要】本文讲清如何用Plotly与Dash把良率分析从静态PNG升级为可钻取的交互看板。覆盖lot到die四层数据模型设计...
[公开] SPC异常自动告警:从触发到通知的最短链路 【摘要】从SPC判异到工程师真正动手,我们厂原本要花四十七分钟,一次CD超限因此多报废三批。本文把告警链路拆成量测入库、规则判定、事件生成、路由分...
[粉丝专享] 颗粒污染与良率:洁净室等级的真实影响 【摘要】洁净室从Class 1000升到Class 100,良率究竟能提升多少?本文从Murphy良率模型出发,讲清颗粒尺寸、致命缺陷密度与关键尺寸...
[公开] 良率提升项目管理:从立项到收尾的方法论 【摘要】良率提升项目失败的原因往往不是技术不行,而是项目管理失控:目标模糊、基线不准、实验设计随意、结论无法固化。本文给出一套完整的六阶段项目管理方法...
[粉丝专享] SPC与工程规格的博弈:谁说了算的现实困境 【摘要】控制限来自过程本身,规格限来自设计与客户,两者冲突时到底听谁的?本文用栅氧厚度与关键尺寸两个真实案例,拆解四种典型冲突场景的判定逻辑,...
[公开] 薄膜沉积速率监控:SPC纳入的实战 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的设备工艺类问题,从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验,给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺工程...