半导体良率分析工具v2｜制造业通用工具
这个工具解决什么问题
成本核算的分摊方式一变，结论就变。这工具把分摊口径写成参数。
半导体FAB良率分析系统，支持多维分析、趋势图、帕累托图、缺陷热力图、Excel报告导出。
🚀 快速开始
pip install -r requirements.txt python yield_tool.py
📈 功能特性
· 数据总览：展示所有良率记录，支持按产品/腔室/班次筛选 · 良率趋势图：支持按日期/产品/腔室/班次分组查看良率趋势 · 帕累托图：缺陷类型数量分析，识别主要良率损失因素 · 缺陷热力图：产品×缺陷类型缺陷分布表格可视化 · 报告导出：Excel完整报告、CSV数据、图表PNG导出
📊 内置数据
· 60条良率记录 · 产品：IC-CMOS-12nm/28nm, Flash-NAND-96L, Power-MOSFET-SiC · 缺陷类型：粒子污染、光刻偏差、刻蚀不均匀、膜厚异常等8种
⚙️ 系统要求
· Python 3.8+ · matplotlib（趋势图、帕累托图） · openpyxl（Excel导出，可选） · Tkinter（Python内置）
可调参数与计算口径
脚本顶部集中了主要阈值与常量：CHAMBERS=["A", "B", "C", "D"]、SHIFTS=["白班", "中班", "夜班"]、EQUIP_TYPES=["炉管", "光刻机", "刻蚀机", "沉积设备", "CMP"]、YIELD_DATA=gen_yield_data()。改完直接重跑即可，不必改动计算逻辑。
脚本里的主要处理步骤
脚本内部按固定列组织数据：日期、产品、腔室、设备、班次、总数、良品、缺陷、良率%、状态。
gen_yield_data()：生成60条良率数据
以上步骤在脚本中是分开的函数，可以单独调用或按需替换其中一段，不必整体重写。
工具中出现的字段与提示
- 沉积设备
- 粒子污染
- 光刻偏差
- 刻蚀不均匀
- 膜厚异常
- 对准偏差
- 栅氧缺陷
- 生成60条良率数据
- 📊 VIP良率分析工具 - 半导体FAB良率分析系统 v1.0
- 📊 半导体FAB良率分析系统
- 📋 数据总览
- 📈 良率趋势
- 📉 良率损失帕累托
- 🔥 缺陷分布热力图
- 📊 分析报告导出
- 📦 总记录
- ]} 条
- ✅ 总良品
其余字段以界面与示例报告为准。
下载与文件清单
压缩包内包含：主程序脚本、示例数据文件、示例输出报告、中文说明文档。解压后按说明运行即可，示例数据可直接试跑。
主程序文件：yield_tool.py。
本站工具免费下载，无需注册。工具为 Python 脚本，Python 3.8 及以上环境可直接运行，核心功能尽量不依赖第三方库。
常见问题
阈值可以改成我们自己的标准吗？
可以，脚本顶部已把主要阈值与常量集中声明，按自己产线的标准修改后重跑即可，不需要改计算逻辑。
示例数据能直接跑吗？
可以。示例数据与主程序在同一压缩包内，解压后直接运行即可看到完整输出，确认无误再替换成自己的台账。
同一工具的其它收录名称
本站早期还以以下名称收录过同一款工具，下载内容完全一致：
- 良率分析工具集
- 良率分析工具_20260716.u9981
- 良率分析工具
