良率波动归因分析：回归模型量化影响因素
[公开] 良率波动归因分析：回归模型量化影响因素 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺...
[公开] 本地大模型微调FAB术语：LoRA低成本方案实测
![[公开] 本地大模型微调FAB术语：LoRA低成本方案实测](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813002940178655218021474.png)
[公开] 本地大模型微调FAB术语：LoRA低成本方案实测 【摘要】通用大模型不懂Fab术语，把WAT说成水质检测、把hold理解成通话保持，这类错误让它在产线场景几乎不可用。本文完整记录我们用一张消...
FAB工程师创业：哪些方向值得尝试
[公开] FAB工程师创业：哪些方向值得尝试 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的职场科普类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺工程...
[公开] FAB女工程师的处境：真实与偏见
![[公开] FAB女工程师的处境：真实与偏见](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813002943178655218375595.png)
[公开] FAB女工程师的处境：真实与偏见 【摘要】半导体产线上女工程师不少，但越往上走越少，这是行业里一个人人看得见却少有人系统讨论的现象。本文不做立场宣言，只做工程分析：用一家Fab连续四年的人事...
Python处理WaferMap数据：Bin图绘制与解读
[公开] Python处理WaferMap数据：Bin图绘制与解读 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的数据工具类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。...
规格限与控制限：两者区别与设计原则
[公开] 规格限与控制限：两者区别与设计原则 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC过程控制类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工...
[公开] 用Python批量处理Excel：工程师的效率利器
![[公开] 用Python批量处理Excel：工程师的效率利器](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813002946178655218644465.png)
[公开] 用Python批量处理Excel：工程师的效率利器 【摘要】产线工程师每天有大量时间消耗在Excel的复制粘贴上。本文不讲语法教程，而是从工程实践角度讲清openpyxl、pandas、xl...
MES工单BOM展开：子批次拆分与合批逻辑
[公开] MES工单BOM展开：子批次拆分与合批逻辑 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的MES自动化类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合F...
本地大模型部署：Ollama在FAB私有化场景应用
[公开] 本地大模型部署：Ollama在FAB私有化场景应用 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的半导体AI融合类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。...
[公开] 光刻胶涂布均匀性：转速与厚度的关系模型
![[公开] 光刻胶涂布均匀性：转速与厚度的关系模型](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813002949178655218995168.png)
[公开] 光刻胶涂布均匀性：转速与厚度的关系模型 【摘要】旋涂厚度与转速的负二分之一次方成正比，这个公式几乎人人会背，但真到产线上按公式算出来的转速涂出来的膜厚经常差百分之十几。本文从Emslie与M...