[粉丝专享] 计数型控制图c图/u图:缺陷率监控正确姿势

叶志辉5天前6
[粉丝专享] 计数型控制图c图/u图:缺陷率监控正确姿势
[粉丝专享] 计数型控制图c图/u图:缺陷率监控正确姿势 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC过程控制类问题,从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验,给出可直接落地复用的实战方案。文章...

[粉丝专享] 大模型做良率分析报告:Chain-of-Thought实战

叶志辉5天前4
[粉丝专享] 大模型做良率分析报告:Chain-of-Thought实战
[粉丝专享] 大模型做良率分析报告:Chain-of-Thought实战 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的半导体AI融合类问题,从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验,给出可直接落地复用...

[公开] EES工程控制系统:OEE数据采集与计算逻辑

叶志辉5天前6
[公开] EES工程控制系统:OEE数据采集与计算逻辑
[公开] EES工程控制系统:OEE数据采集与计算逻辑 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题,从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验,给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fa...

[公开] SPC与质量体系整合:IATF16949落地实践

叶志辉5天前6
[公开] SPC与质量体系整合:IATF16949落地实践
[公开] SPC与质量体系整合:IATF16949落地实践 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC过程控制类问题,从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验,给出可直接落地复用的实战方案。文...

[粉丝专享] Inline量测数据接入:从设备到报表的全链路

叶志辉5天前3
[粉丝专享] Inline量测数据接入:从设备到报表的全链路
[粉丝专享] Inline量测数据接入:从设备到报表的全链路 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题,从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验,给出可直接落地复用的实战方案。文章适...

[粉丝专享] 多变量SPC控制图:相关变量联合监控实战

叶志辉5天前3
[粉丝专享] 多变量SPC控制图:相关变量联合监控实战
[粉丝专享] 多变量SPC控制图:相关变量联合监控实战 【摘要】本文以「SPC过程控制」为切入点,从行业演进趋势、技术基因差异、真实工程痛点、前沿解法四个层次展开,结合笔者在12寸Fab的一线实战数据...

[公开] SPC与SPC-Lite:轻量化监控的取舍

叶志辉5天前4
[公开] SPC与SPC-Lite:轻量化监控的取舍
[公开] SPC与SPC-Lite:轻量化监控的取舍 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC过程控制类问题,从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验,给出可直接落地复用的实战方案。文章适合...

[粉丝专享] SPC误区之抽样频率:测得越多不等于控得越好

叶志辉5天前3
[粉丝专享] SPC误区之抽样频率:测得越多不等于控得越好
[粉丝专享] SPC误区之抽样频率:测得越多不等于控得越好 【摘要】很多工厂在质量出问题后的第一反应是"加大抽样",结果量测机台被塞爆、控制图上假报警满天飞、真正的漂移反而被淹没。...

[公开] 良率与量产爬坡曲线:学习曲线的数学建模

叶志辉5天前2
[公开] 良率与量产爬坡曲线:学习曲线的数学建模
[公开] 良率与量产爬坡曲线:学习曲线的数学建模 【摘要】新产品导入量产后,良率爬坡到底该多快、什么时候能达到承诺值,绝大多数工厂靠拍脑袋。本文用三种学习曲线模型(指数逼近、Wright幂律、Gomp...

[粉丝专享] AI辅助良率爬坡:从数据到行动项的闭环设计

叶志辉5天前3
[粉丝专享] AI辅助良率爬坡:从数据到行动项的闭环设计
[粉丝专享] AI辅助良率爬坡:从数据到行动项的闭环设计 【摘要】本文针对半导体AI融合领域的实战问题,从真实场景出发,展开完整的技术分析、现状诊断、解决方案设计与落地经验分享。文章适合相关方向的工程...