测量不确定度GUM评定计算器｜SPC实战工具
这个工具解决什么问题 按 GUM / JJF 1059.1 口径做一次完整的测量不确定度评定：录入各分量 （A 类直接给标准不确定度 u；B 类给半宽 a 与分布），灵敏度系数加权合成 uc，Wel...
负二项良率模型计算器｜SPC实战工具
这个工具解决什么问题 半导体良率的经典陷阱：实测良率总是低于泊松模型 Y=exp(-D0)。 原因是缺陷成簇（划痕、颗粒团、边缘环），负二项模型用聚集参数 α 修正： Y = (1 + D0/α)^...
控制图检出力ARL计算器｜SPC实战工具
这个工具解决什么问题 把手工反复核对的环节交给脚本，是这类工具最实在的收益：省下的不是时间，是返工。 回答控制图方案评审最该问的一句话：「工艺真的漂了，这张图要多久才能发现？」 对 Xbar 图给...
预控制PreControl判定器｜SPC实战工具
这个工具解决什么问题 小批量、多品种、来不及积累 25 组子建图时的快速过程判定工具。 按规格带四分法设绿/黄/红三区，自动执行四条停机规则并输出逐点判定流。 换型频繁的生产线上，经典控制图还没建起...
非正态过程能力分位数法计算器｜SPC实战工具
这个工具解决什么问题 针对偏态分布参数（颗粒数、涂层厚度、检出限截断数据）的过程能力计算。 主口径为 ISO 22514-2 分位数法（经验分位数，不假设分布），并给出对数正态拟合 的对照口径与超规...
两样本t检验与均值比对器｜SPC实战工具
这个工具解决什么问题 这类分析的结果要能写进报告、经得起追问。因此中间量都会给出，而不是只给结论。 对两组连续型测量数据（两台机台、两个批次、改善前后）做均值比对。以 Welch t 检验为主 （...
CUSUM累积和控制图分析器｜SPC实战工具
这个工具解决什么问题 传统 Shewhart 控制图（Xbar-R、I-MR）抓的是「大突变」，对 1σ 以内的持续小偏移几乎无能为力： 过程已经漂了半个月、良率已经掉了两个点，图上却一个点都没越界...
正交实验设计DOE与方差分析器｜SPC实战工具
这个工具解决什么问题 工艺调优时，工程师手上有 3~5 个参数、每个 2~3 个水平，全因子试验要做几十次跑不完。 正交表能把试验次数压到 9 次甚至更少，但「哪个因子真正有影响」「最优组合是哪一组...
FMEA失效模式与影响分析器｜SPC实战工具
这个工具解决什么问题 FMEA 是质量体系的必做动作，但现场常见两种痛：一是「用 Excel 手算 RPN 排顺序」， 二三十条还好，上百条就容易算错、也看不出重点；二是「算完 RPN 就结束了」，...
晶圆边缘排除区良率分析器｜SPC实战工具
这个工具解决什么问题 良率报告必须声明「边缘排除尺寸 EE」——同一个批次，EE=0mm 报 78%、EE=3mm 可能报 88%， 差 10 个点全在边缘。不同 EE 下的良率本来就没法比。 本工...