[公开] 半导体数据湖落地:把电性数据、设备日志与缺陷图片装进同一套体系

叶志辉5天前0
[公开] 半导体数据湖落地:把电性数据、设备日志与缺陷图片装进同一套体系
[公开] 半导体数据湖落地:把电性数据、设备日志与缺陷图片装进同一套体系 【摘要】失效分析要同时看WAT电性、CP测试、设备日志、AOI缺陷图和FA报告,但这些数据分散在五套系统里,格式从数值表到图片...

[公开] 刻蚀设备PM后首件:为什么总是不稳定,以及怎么把恢复时间压掉一半

叶志辉5天前0
[公开] 刻蚀设备PM后首件:为什么总是不稳定,以及怎么把恢复时间压掉一半
[公开] 刻蚀设备PM后首件:为什么总是不稳定,以及怎么把恢复时间压掉一半 【摘要】刻蚀机做完预防性维护复机,首件CD偏移、需要反复seasoning、恢复动辄六七个小时,是Fab里最常见也最少被系统...

[公开] test program调试:良率异常先别怪工艺

叶志辉5天前0
[公开] test program调试:良率异常先别怪工艺
[公开] test program调试:良率异常先别怪工艺 【摘要】本文聚焦半导体晶圆测试环节中Test Program调试这一关键工程活动,系统阐述良率异常时"先查Test Program...

[公开] 设备维护排程优化器:预防性维护的自动化

叶志辉5天前2
[公开] 设备维护排程优化器:预防性维护的自动化
[公开] 设备维护排程优化器:预防性维护的自动化 【摘要】本文从半导体Fab预防性维护排程的实战痛点出发,介绍如何利用运筹学算法(整数规划+启发式算法)构建设备维护排程优化器,在保障产能的前提下最小化...

[粉丝专享] 过程能力研究报告:一份能过审的模板长什么样

叶志辉5天前2
[粉丝专享] 过程能力研究报告:一份能过审的模板长什么样
[粉丝专享] 过程能力研究报告:一份能过审的模板长什么样 【摘要】本文系统介绍半导体Fab场景下过程能力研究(Cpk分析)的完整方法论,从数据采集、分布检验、能力指标计算到报告撰写规范,给出一套可直接...

[粉丝专享] AI推荐维护窗口:把PM从固定周期改成预测性

叶志辉5天前2
[粉丝专享] AI推荐维护窗口:把PM从固定周期改成预测性
[粉丝专享] AI推荐维护窗口:把PM从固定周期改成预测性 【摘要】本文围绕半导体Fab设备维护方式从固定周期PM向预测性维护(PdM)转型这一核心命题,从问题背景、原因分析、落地步骤到避坑经验,系统...

[粉丝专享] 工程师副业的边界:竞业限制与合规红线到底在哪里

叶志辉5天前2
[粉丝专享] 工程师副业的边界:竞业限制与合规红线到底在哪里
[粉丝专享] 工程师副业的边界:竞业限制与合规红线到底在哪里 【摘要】本文系统梳理半导体与制造业工程师做副业时的四层法律约束:保密义务、竞业限制、职务发明与用工冲突。给出可执行的内容脱敏五要素法、十条...

[粉丝专享] 用Plotly做交互式良率图:从静态截图到钻取分析的完整落地

叶志辉5天前2
[粉丝专享] 用Plotly做交互式良率图:从静态截图到钻取分析的完整落地
[粉丝专享] 用Plotly做交互式良率图:从静态截图到钻取分析的完整落地 【摘要】本文讲清如何用Plotly与Dash把良率分析从静态PNG升级为可钻取的交互看板。覆盖lot到die四层数据模型设计...

[公开] 光刻机产能优化:曝光节拍的瓶颈分析

叶志辉5天前1
[公开] 光刻机产能优化:曝光节拍的瓶颈分析
[公开] 光刻机产能优化:曝光节拍的瓶颈分析 【摘要】一台标称每小时180片的浸没式光刻机,实际只跑到132片,原厂说是使用方式问题,产线说是设备问题。本文用日志把单片节拍拆成上下料、对准、调平、曝光...

[公开] 良率与工艺窗口:为什么要留足margin

叶志辉5天前1
[公开] 良率与工艺窗口:为什么要留足margin
[公开] 良率与工艺窗口:为什么要留足margin 【摘要】为了提产能把光刻焦深margin压掉三成,当月良率没掉,三个月后一场梅雨季让我们赔了整整两周产出。本文讲清工艺窗口的定义与量化方法、量测误差...