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自动拆解OEE三大损失(可用率/性能率/良品率),六大停机损失帕累托图,给出改善优先级建议。...
R2R运行到运行控制器+EWMA预测模型仿真:设备漂移与噪声下,对比开环与闭环的控制效果,输出收敛曲线。...
模拟SECS-GEM数据流采集,内置超限/均值漂移/趋势三类报警规则引擎,输出报警CSV,可直接作为产线FDC原型二开。...
一套三步提示词工作流:长文扩写(4500-6000字,含FAQ/表格)→ CSDN版改写(@[TOC]+配图占位)→ SEO元信息生成,附配图规范与发布自检清单。...
全因子实验矩阵生成、单因子方差分析(F检验)、因子效应极差排序、最优工艺窗口推荐。...
读取工单与停机记录,自动计算OEE三大指标、统计停机损失TOP,输出Excel周报。...
自动绘制Xbar-R控制图、计算Cp/Cpk/Ppk,内置Nelson判异规则1~5,输出异常清单与控制图。...
读取CP测试数据,自动绘制Wafer Map、统计每片晶圆良率与FAIL bin分布、边缘/中心分层对比,输出中文分析报告。...
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