MES灾备方案：宕机12次后我们做的改造
[公开] MES灾备方案：宕机12次后我们做的改造 【摘要】一年宕机十二次、单次最长四小时十七分，纸单作业救不了产线。本文完整复盘我们的MES高可用与灾备改造：会话无状态化、数据库半同步自动切换、接口...
[粉丝专享] 良率数据的陷阱：抽样测试掩盖的真相
![[粉丝专享] 良率数据的陷阱：抽样测试掩盖的真相](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003314178655239428178.png)
[粉丝专享] 良率数据的陷阱：抽样测试掩盖的真相 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工艺...
SPC异常自动告警：从触发到通知的最短链路
[公开] SPC异常自动告警：从触发到通知的最短链路 【摘要】从SPC判异到工程师真正动手，我们厂原本要花四十七分钟，一次CD超限因此多报废三批。本文把告警链路拆成量测入库、规则判定、事件生成、路由分...
半导体时序数据异常检测：Transformer实战调参
[公开] 半导体时序数据异常检测：Transformer实战调参 【摘要】把Transformer用到刻蚀腔体时序异常检测上，第一版效果还不如三倍标准差。本文完整复盘从事件级F1零点四一到零点七八的调...
半导体行业黑话大全：新人听不懂的那些词
[公开] 半导体行业黑话大全：新人听不懂的那些词 【摘要】半导体产线的日常沟通中英夹杂、缩写满天飞，新人前两个月大半时间花在猜意思上。本文把Fab高频黑话按批次、状态、量测、设备、质量五大类系统梳理，...
[公开] 自相关数据用SPC失效：残差控制图的补救方案
![[公开] 自相关数据用SPC失效：残差控制图的补救方案](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003318178655239866475.png)
[公开] 自相关数据用SPC失效：残差控制图的补救方案 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的SPC质量治理类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适...
时序异常检测：滑动窗口与统计阈值
[粉丝专享] 时序异常检测：滑动窗口与统计阈值 【摘要】在上深度学习之前，先把统计方法用到位。本文系统讲解滑动窗口、EWMA、MAD鲁棒阈值、CUSUM在半导体设备时序数据上的适用边界与参数选择，给出...
离子注入退火激活率：如何验证掺杂效果
[粉丝专享] 离子注入退火激活率：如何验证掺杂效果 【摘要】注入剂量对了不代表掺杂效果就对。本文讲清退火激活率的物理含义、四探针方块电阻与霍尔量测的适用边界、SIMS与扩展电阻的取舍，并给出一套可落地...
[公开] 用LangChain搭FAB问答机器人：踩过的5个坑
![[公开] 用LangChain搭FAB问答机器人：踩过的5个坑](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003322178655240229397.png)
[公开] 用LangChain搭FAB问答机器人：踩过的5个坑 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的半导体AI融合类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案...
颗粒污染与良率：洁净室等级的真实影响
[粉丝专享] 颗粒污染与良率：洁净室等级的真实影响 【摘要】洁净室从Class 1000升到Class 100，良率究竟能提升多少？本文从Murphy良率模型出发，讲清颗粒尺寸、致命缺陷密度与关键尺寸...