缺陷密度关联分析：相关不等于因果的实证
[粉丝专享] 缺陷密度关联分析：相关不等于因果的实证 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的数据工具类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab...
刻蚀气体配比优化：DOE找最佳工艺点
[粉丝专享] 刻蚀气体配比优化：DOE找最佳工艺点 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的设备工艺类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合Fab工...
Recipe版本管理：一次参数错误引发的百万损失
Recipe版本管理：一次参数错误引发的百万损失 半导体FAB Recipe版本管理的失控点、防错机制与MES联动管控实战 图1 Recipe版本失控路径 vs 管控路径对比 一、背景故事：0.5%的...
良率baseline管理：什么时候该拉响警报
[粉丝专享] 良率baseline管理：什么时候该拉响警报 【摘要】本文针对半导体Fab生产中常见的良率工程类问题，从问题背景、原因定位、完整解决步骤到避坑经验，给出可直接落地复用的实战方案。文章适合...
MES与QMS集成：质量数据的闭环追溯
[公开] MES与QMS集成：质量数据的闭环追溯 【摘要】客户投诉打进来，问这批货用了哪台设备、哪批原材料、当时工艺参数是多少，如果需要三周才能回答，说明MES与QMS之间是断的。本文讲清质量数据闭环...
控制限和规格限混用：新人最常犯的致命错误
控制限和规格限混用：新人最常犯的致命错误 控制限(±3σ过程能力)与规格限(客户要求)的本质区别，混用导致的误判案例与正确用法 新人把USL/LSL当成控制限画在SPC图上，结果整天误报警——这两个&...
[公开] 测量系统分析(MSA)：Gage R&R没做好SPC全白搭
![[公开] 测量系统分析(MSA)：Gage R&R没做好SPC全白搭](https://www.yezhihui.cn/zb_users/upload/2026/08/20260813003405178655244569706.png)
[公开] 测量系统分析(MSA)：Gage R&R没做好SPC全白搭 【摘要】控制图上跳出来的点，到底是过程真的变了，还是量测系统在抖？如果没做过Gage R&R，这个问题永远没有答案...
本地大模型微调FAB术语：LoRA低成本方案实测
[公开] 本地大模型微调FAB术语：LoRA低成本方案实测 【摘要】通用大模型不懂Fab术语，把WAT说成水质检测、把hold理解成通话保持，这类错误让它在产线场景几乎不可用。本文完整记录我们用一张消...
FAB内部潜规则：技术之外的生存智慧
FAB内部潜规则：技术之外的生存智慧 FAB里没人明说但人人都懂的生存法则：跨部门协作、会议政治、汇报技巧与晋升路径 技术最好的工程师三年没升职，会"汇报"的反而升了——FAB里技...
FAB女工程师的处境：真实与偏见
[公开] FAB女工程师的处境：真实与偏见 【摘要】半导体产线上女工程师不少，但越往上走越少，这是行业里一个人人看得见却少有人系统讨论的现象。本文不做立场宣言，只做工程分析：用一家Fab连续四年的人事...