当前位置:首页 > 半导体工具包 > 正文内容

首件检验记录表FAI模板|自动判定平均值 Excel可打印

首件检验记录表FAI模板封面 实测五次自动判定

首件为什么总出问题

首件检验是产线最重要的防错闸门:换批、换料、调参数、修设备之后的第一片,测对了才能放行整批。但现实中首件经常出三类问题:测了没记录、记录了不算(手工算平均值出错)、算完了凭感觉判。

这套《首件检验记录表 FAI》把这三步全部自动化:

表单结构

  • 表头信息区:工单号、产品编号、工序、设备、日期、检验员;
  • 检验明细:规格下限 / 规格上限 / 单位 / 实测 1~5 / 平均值 / 判定;
  • 自动汇总:检验项数、合格项数、不合格项数、总体判定一句话(全部合格 → 「首件合格 —— 放行批量生产」)。

自动化设计

  • 平均值 = AVERAGE(实测1~5),自动保留 2 位;
  • 判定 = 平均值是否落在 [下限, 上限],单侧规格(下限填「—」)自动兼容;
  • 计数型项目(划伤数、崩边数)同样适用;
  • 判定自动着色,不合格红色高亮;
  • 处置记录区三选一:合格放行 / 调参数重新首件 / 隔离开 NCR。

首件检验记录表 实测五次平均值自动判定与总体放行判定

使用方法

  1. 换批/调参后,按工单填表头信息;
  2. 逐项录入 5 次实测值,判定自动生成;
  3. 全部合格 → 勾选「合格放行」继续批量;任一不合格 → 按处置区流程走;
  4. 打印签字归档,随工单流转。

FAQ

Q1:Excel 什么版本能用? A:Excel 2016+ 与 WPS 均可,无宏无插件。

Q2:实测必须是 5 次吗? A:模板按 5 次设计(行业惯例);如需 3 次,把多余列清空即可,AVERAGE 自动忽略空格。

Q3:和设备点检表什么关系? A:点检是「设备状态的例行确认」,首件是「产品结果的放行确认」,两者互补:建议开机点检合格后做首件,双保险。

Q4:不合格批次的产品怎么登记? A:用本站《不合格品处置单 NCR》,与首件表配套使用。

资料获取

《首件检验记录表 FAI》可直接下载:点击下载 zip(273 KB)。解压即用,Excel 可填版与 PDF 打印版都在包内,打印版已排 A4 版式,可直接打印签字归档。同系列另 9 套表单与 Excel 工具见「资源下载」页的工具专区。

同类资料(建议继续看)

相关阅读

相关文章

晶圆良率分析Python工具免费下载|Wafer Map+良率分层报表

晶圆良率分析Python工具免费下载|Wafer Map+良率分层报表

工具简介读取CP测试数据,自动绘制Wafer Map、统计每片晶圆良率与FAIL bin分布、边缘/中心分层对比,输出中文分析报告。资料包内容· 主程序 wafer_yield_analyzer.py...

DOE实验设计方差分析Python工具免费下载|因子效应排序

DOE实验设计方差分析Python工具免费下载|因子效应排序

工具简介全因子实验矩阵生成、单因子方差分析(F检验)、因子效应极差排序、最优工艺窗口推荐。资料包内容· 主程序 doe_analyzer.py(Python 3.8+,核心功能零第三方依赖)· 自动生...