OEE 怎么算？可用率、性能、良率三因子拆解与六个常见算错点
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OEE（Overall Equipment Effectiveness，设备综合效率）是把「停机、慢跑、做坏」三种损失乘在一起看的指标：
OEE = 可用率 × 性能 × 良率
三个因子
| 因子 | 算法 | 对应损失 |
|---|---|---|
| 可用率 Availability | 实际运行时间 / 计划生产时间 | 故障、换型、待料 |
| 性能 Performance | (理论节拍 × 产出量) / 实际运行时间 | 降速、小停机、空转 |
| 良率 Quality | 良品数 / 总产出数 | 报废、返工 |
举例：计划 480 分钟，故障停机 48 分钟 → 可用率 90%；理论节拍 1 分钟/件，实际做了 400 件 → 性能 400/432 = 92.6%；400 件里 388 件良品 → 良率 97%。OEE = 0.90 × 0.926 × 0.97 ≈ 80.9%。
六个常见算错点
- 把计划保养算进停机：计划内保养应该从「计划生产时间」里扣掉，不算损失，否则 OEE 被人为压低。
- 理论节拍取历史最快值：有人拿设备验收时跑出的峰值当理论节拍，结果性能永远算不满。应该用设备规格书标称能力。
- 良率口径混用：机台端常用「片良率」，装配端常用「件良率」，混在一起乘出来的数没有意义。
- 人停机也算设备停机：操作员去吃饭、待料，设备确实停着，但那是组织损失，不是设备损失。要看你想考核谁。
- 良率没算返工：返工品算良品还是不良品，直接决定良率高低。行业内一般按「一次通过率（FPY）」算，返工后通过的不算。
- 拿 OEE 横向比不同设备：瓶颈设备和非瓶颈设备的 OEE 目标本来就不同，一刀切考核会逼着产线做无效改善。
半导体厂的用法差异
在 Fab 里，OEE 一般只用于单机台或单工序评估，不用于整厂——因为工艺路线长、每片要走几百道工序，整厂 OEE 算出来没有解释力。整厂层面看的是产能利用率、Cycle Time、WIP 周转这些指标。