这个工具解决什么问题 ˃ 按 Wald SPRT 生成序贯抽样判定线,边抽边判,平均样本量比固定方案少三到五成。 输入数据格式 数据文件 sequential_inspection.csv,列顺序...
这个工具解决什么问题 ˃ 用卡方检验判断「某台设备是否偏好产出某类缺陷」,并用标准化残差精准锁定是哪一台、哪一类。 输入数据格式 数据文件 defect_tool_crosstab.csv,列顺序...
这个工具解决什么问题 良率从 55% 爬到 93% 之后就开始「磨」——每周涨 0.1 个点,眼看离 94%/95% 目标还差一截, 但没人说得清「照这个速度还要多久」,也没人分得清「是正常的学习放...
这个工具解决什么问题 控制图有三个参数:样本量 n、采样间隔 h、控制限宽度 L。绝大多数工厂是照抄前辈或 随手定成 n=5、h=1h、L=3σ,结果不是「太勤」(检验工时和试片成本吃掉利润), 就...
这个工具解决什么问题 先解决可比性,再谈改善。这工具先把数据整理到同一口径上。 GR&R 只回答「量具变差有多大」,回答不了「量具读得准不准」。 本工具专做 MSA 的偏倚(Bias)与线性(Li...
这个工具解决什么问题 质量数据的常见坑是「看起来算完了但前提没满足」。这工具会在输出里提示适用性。 由各工序「投入 / 一次合格 / 返工 / 报废」算 FTY(一次通过率),连乘得 RTY(直通...
这个工具解决什么问题 针对「属性型」判定(外观目检、听音、通止规、颜色卡)的一致性分析: 同人两次重复(重复性)→ 各人与基准比对(准确度)→ 全体一致性(Fleiss kappa), 按 Land...
这个工具解决什么问题 按 GUM / JJF 1059.1 口径做一次完整的测量不确定度评定:录入各分量 (A 类直接给标准不确定度 u;B 类给半宽 a 与分布),灵敏度系数加权合成 uc,Wel...
这个工具解决什么问题 半导体良率的经典陷阱:实测良率总是低于泊松模型 Y=exp(-D0)。 原因是缺陷成簇(划痕、颗粒团、边缘环),负二项模型用聚集参数 α 修正: Y = (1 + D0/α)^...
这个工具解决什么问题 把手工反复核对的环节交给脚本,是这类工具最实在的收益:省下的不是时间,是返工。 回答控制图方案评审最该问的一句话:「工艺真的漂了,这张图要多久才能发现?」 对 Xbar 图给...