威布尔可靠性寿命与加速寿命外推器|OEE与设备效能工具

叶志辉8小时前1
这个工具解决什么问题 「这个器件能用多久?」标准答案是做加速寿命试验:在高温下把样品烤到失效, 再用 Arrhenius 模型外推到实际使用温度。但落地时三件事容易做错: 1. 截尾样本被直接丢掉...

光罩寿命与使用次数管理器|OEE与设备效能工具

叶志辉8小时前2
这个工具解决什么问题 把损失科目拆开算,比笼统说提高稼动率有用得多。 光罩是 Fab 里最贵、最怕「用过头」的耗材:既有累计曝光寿命上限,又有单次清洗周期内的曝光上限。 漏管一张就是整批图形异常,...

机台间匹配度ToolMatching分析器

叶志辉8小时前1
这个工具解决什么问题 同一个步骤往往有多台同型号机台,它们表现必须一致,否则同一产品在不同机台跑出来参数不同, 良率与电性随机波动,问题还极难定位(换一台机就好了)。定期做 Tool Matchin...

MQTT设备数据采集监控器|OEE与设备效能工具

叶志辉8小时前1
这个工具解决什么问题 做设备分析先要解决数据从哪来、口径怎么定。这工具按常见设备台账字段设计输入,跑一遍就有可汇报的口径。 FAB 设备实时数据采集监控仿真工具,模拟 MQTT 主题订阅与数据推送...

设备报警分析工具集|OEE与设备效能工具

叶志辉8小时前1
这个工具解决什么问题 稼动率的分母不一致,是设备报表最常见的争议来源。这工具把分母定义显式写出来。 本工具集提供完整的设备报警日志解析、分类统计、根因分析、趋势预警功能,支持多种日志格式(正则解析...

半导体OEE效率看板v2|OEE与设备效能工具

叶志辉8小时前1
这个工具解决什么问题 设备台账维护得好不好,直接决定分析能走多远。这工具对输入字段做了最小要求。 半导体FAB OEE分析系统,支持OEE=可用率×性能率×质量率三率计算、时间轴甘特图、雷达图、改...

半导体FDC故障诊断v2|OEE与设备效能工具

叶志辉8小时前1
这个工具解决什么问题 设备类分析最怕「指标漂了但没人发现」,因此阈值判定会明确给出。 FDC(Fault Detection & Classification)故障检测与分类系统是半导体FAB设备...

半导体设备维护调度v2|OEE与设备效能工具

叶志辉8小时前1
这个工具解决什么问题 先把损失归因做对,再谈自动化采集。顺序反了会白做。 · 维护单号自动生成 · 设备编号和名称 · 维护类型:保养、维修、点检、校准、计划外、改造 · 维护时长自动计算 · 维...

半导体设备产能分析v2|OEE与设备效能工具

叶志辉8小时前1
这个工具解决什么问题 半导体FAB设备产能综合分析工具,支持UPH计算、瓶颈工序识别、产能利用率分析、扩产方案对比、批次排产甘特图等功能。 🔧 功能列表 1. 产能概览 - 20台设备UPH/日产...

产能负荷分析器|OEE与设备效能工具

叶志辉8小时前1
这个工具解决什么问题 预测性维护的前提是趋势可算。这工具先把趋势量的口径固定下来。 半导体FAB各工序设备数/周期时间/需求数据,输入即可计算瓶颈工序与产能利用率, 输出负荷柱状图与热力条,自动标...